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半导体薄层电阻测量新方法研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
目录第8-11页
第一章 绪论第11-16页
 1-1 半导体电阻率测试的意义第11-12页
 1-2 薄层电阻测试方法综述第12页
  1-2-1 微区薄层电阻测试方法原理及分类第12页
  1-2-2 测量结果显示方法综述第12页
 1-3 四探针测试技术概述第12-13页
 1-4 电阻抗成像技术应用第13-15页
  1-4-1 电阻率测试对工业领域的重要性第13页
  1-4-2 电阻率测试在地质物探领域的应用第13-14页
  1-4-3 电阻率测试在医学领域应用第14页
  1-4-4 其它应用第14-15页
 1-5 课题研究内容第15-16页
第二章 四探针技术研究第16-34页
 2-1 四探针技术简介第16-18页
 2-2 常见四探针法原理第18-20页
  2-2-1 常规直线四探针法基本原理第18-19页
  2-2-2 改进的范德堡法第19-20页
  2-2-3 斜置式方形Rymaszewski 法第20页
 2-3 保角变换法推导范德堡方程第20-24页
  2-3-1 半无穷大薄样品的Van der Pauw 方程的推导第20-21页
  2-3-2 任意形状薄样品的Van der Pauw 方程的推导第21-24页
 2-4 图形变换理论推导范德堡方程第24-29页
  2-4-1 图形变换方法第24-25页
  2-4-2 图形变换的计算方法第25-29页
 2-5 各向异性样品电阻率测量的有限元法第29-33页
  2-5-1 电阻率各向异性样品三维场域的剖分第29-30页
  2-5-2 泛函的计算过程第30-31页
  2-5-3 各向异性三维样品电阻率的FEM 计算第31-33页
 2-6 小结第33-34页
第三章 动静态电阻抗成像算法研究第34-54页
 3-1 引言第34页
 3-2 电阻抗成像技术的原理第34-35页
 3-3 EIT 正向问题分析第35-44页
  3-3-1 数学模型和有限元分析第35-37页
  3-3-2 有限元方法的实现第37-44页
 3-4 EIT 反向问题研究第44-45页
  3-4-1 反问题含义第44页
  3-4-2 反问题难点第44-45页
 3-5 动态反投影重建算法研究第45-50页
 3-6 静态牛顿重建算法研究第50-53页
  3-6-1 牛顿法原理第50-52页
  3-6-2 牛顿法求解硅片电导率分布第52-53页
 3-8 小结第53-54页
第四章 神经网络技术及粒子群算法理论基础第54-64页
 4-1 神经网络理论第54-59页
  4-1-1 神经网络结构第54-55页
  4-1-2 神经网络的工作原理第55页
  4-1-3 BP 神经网络第55-57页
  4-1-4 神经网络的评价准则第57-59页
 4-2 粒子群算法原理第59-63页
  4-2-1 群优化技术第59页
  4-2-2 粒子群算法基本原理第59-61页
  4-2-3 粒子群算法的问题第61-62页
  4-2-4 粒子群算法的可能改进方法第62-63页
 4-3 小结第63-64页
第五章 粒子群算法改进研究第64-72页
 5-1 粒子群算法参数设计第64-70页
  5-1-1 适应度定标与函数选择第64-66页
  5-1-2 学习因子的实验设计以及惯性权重自适应调整策略第66-70页
 5-2 基于标准测试函数的算法实验分析第70-71页
 5-3 小结第71-72页
第六章 粒子群与神经网络第72-80页
 6-1 粒子群与神经网络的结合方式第72-74页
  6-1-1 神经网络的属性第72-73页
  6-1-2 神经网络与粒子群算法的结合第73-74页
 6-2 粒子群对神经网络拓扑结构进行优化第74-76页
 6-3 粒子群神经网络的设计第76-77页
  6-3-1 神经网络结构第76-77页
  6-3-2 粒子群神经网络的工作流程第77页
 6-4 粒子群优化神经网络的实验模拟第77-79页
 6-5 小结第79-80页
第七章 基于改进 PSO 算法优化神经网络的半导体薄层电阻率测量模型的建立与基本参数的设置第80-84页
 7-1 改进PSO 算法优化神经网络的结构与参数第80-82页
 7-2 样本的获取第82-84页
第八章 微区薄层电阻率测量系统设计与实现第84-101页
 8-1 硬件系统设计第84-96页
  8-1-1 总体结构第84页
  8-1-2 电流注入驱动模块原理与设计第84-85页
  8-1-3 可编程恒流源模块设计第85-89页
  8-1-4 模拟开关阵列第89-91页
  8-1-5 数据采集模块原理与设计第91-95页
  8-1-6 单片机控制设计第95-96页
 8-2 上位机软件系统设计第96-100页
   ·小结第100-101页
第九章 半导体薄层电阻率测量的图像重建算法仿真及分析第101-109页
 9-1 静态仿真成像第101-105页
 9-2 实测数据及动态性能分析第105-109页
第十章 结论第109-111页
参考文献第111-117页
致谢第117-118页
攻读学位期间所取得的相关科研成果第118页

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