| 第1章 绪论 | 第1-14页 |
| 1．1 选题的意义 | 第8-9页 |
| 1．2 测试系统的系统构成 | 第9-13页 |
| 1．2．1 测试系统的技术要求 | 第9-10页 |
| 1．2．2 测试系统的组建策略 | 第10-11页 |
| 1．2．3 测试系统的组成 | 第11-12页 |
| 1．2．4 测试系统的简单工作原理 | 第12-13页 |
| 1．2．5 测试系统的相关技术问题 | 第13页 |
| 1．3 本论文的主要工作 | 第13-14页 |
| 第2章 测试系统的传感器选型 | 第14-26页 |
| 2．1 测点分布及测试参数范围 | 第14-16页 |
| 2．2 传感器的工作原理 | 第16-24页 |
| 2．2．1 霍尔传感器 | 第16-18页 |
| 2．2．2 热电偶 | 第18-21页 |
| 2．2．3 磁电式转速传感器 | 第21-22页 |
| 2．2．4 应变式流体压力传感器 | 第22-24页 |
| 2．3 测试系统所用的传感器 | 第24-26页 |
| 第3章 几种不同总线的数采系统 | 第26-34页 |
| 3．1 总线的基本概念 | 第26页 |
| 3．2 基于几种不同总线数采系统的特点 | 第26-31页 |
| 3．2．1 ISA总线的特点 | 第26-28页 |
| 3．2．2 PCI总线的特点 | 第28-30页 |
| 3．2．3 PXI总线的特点 | 第30-31页 |
| 3．3 基于VXI总线数采系统的特点及优点 | 第31-34页 |
| 第4章 测试系统的VXI总线仪器协议及硬件构成 | 第34-51页 |
| 4．1 VXI总线仪器协议 | 第34-36页 |
| 4．2 VXI-1394零槽控制器 | 第36-37页 |
| 4．2．1 特性 | 第36-37页 |
| 4．2．2 电源系统 | 第37页 |
| 4．2．3 电源 | 第37页 |
| 4．2．4 背板 | 第37页 |
| 4．3 VXI机箱中的数据采集模块 | 第37-51页 |
| 4．3．1 JV53121高速采集模块 | 第42页 |
| 4．3．2 JV53413扫描模块 | 第42-46页 |
| 4．3．3 JV53124计数测频测周期模块 | 第46-49页 |
| 4．3．4 JV53404数字量I/O模块 | 第49-51页 |
| 第5章 虚拟仪器技术与测试系统软件设计 | 第51-74页 |
| 5．1 VXI总线系统的虚拟仪器设计 | 第51-58页 |
| 5．1．1 虚拟仪器的基本概念 | 第51-52页 |
| 5．1．2 虚拟仪器的结构 | 第52-54页 |
| 5．1．3 虚拟仪器的特点 | 第54-55页 |
| 5．1．4 仪器驱动器 | 第55-58页 |
| 5．2 可视化软件开发工具Delphi | 第58-59页 |
| 5．2．1 Delphi的简介 | 第58页 |
| 5．2．2 Delphi的主要特点 | 第58-59页 |
| 5．3 测试系统的底层软件 | 第59-64页 |
| 5．3．1 调用动态链接库（DLL） | 第60页 |
| 5．3．2 数据采集程序 | 第60-64页 |
| 5．4 测试系统的上层软件 | 第64-74页 |
| 5．4．1 基于UML模型的测试系统软件设计 | 第64-68页 |
| 5．4．2 利用UML类图在Delphi5中自动生成类 | 第68页 |
| 5．4．3 灵活配置系统程序 | 第68-71页 |
| 5．4．4 实时显示程序 | 第71页 |
| 5．4．5 数据库管理程序 | 第71-72页 |
| 5．4．6 数据处理程序 | 第72-73页 |
| 5．4．7 试验报表自动生成程序 | 第73-74页 |
| 第6章 测试系统的抗干扰措施 | 第74-83页 |
| 6．1 电磁干扰的基本概念 | 第74-76页 |
| 6．1．1 电磁干扰的分类 | 第74页 |
| 6．1．2 传导干扰 | 第74-76页 |
| 6．2 电磁兼容技术 | 第76-82页 |
| 6．2．1 电磁干扰滤波器的工作原理及分类 | 第76-77页 |
| 6．2．2 接地技术及分类 | 第77-80页 |
| 6．2．3 屏蔽技术及应用 | 第80-82页 |
| 6．3 本系统采用的抗电磁干扰措施 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-89页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第89页 |