单晶MgO基片研磨工艺及其损伤研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-19页 |
·单晶MgO基片的应用 | 第9-10页 |
·单晶MgO基片的特性 | 第10-12页 |
·单晶MgO基片的材料特性 | 第10-11页 |
·单晶MgO基片的加工特性 | 第11-12页 |
·单晶MgO基片加工技术研究现状 | 第12-16页 |
·单晶MgO基片的制备 | 第13-14页 |
·单晶MgO基片研磨加工中存在的问题 | 第14-16页 |
·单晶MgO损伤检测方法的研究现状 | 第16-17页 |
·课题的研究内容及意义 | 第17-19页 |
2 单晶MgO基片研磨加工的试验研究 | 第19-30页 |
·单晶MgO研磨实验方案 | 第20-22页 |
·单晶MgO研磨实验结果讨论 | 第22-28页 |
·磨料粒度对去除率及表面粗糙度的影响 | 第22-24页 |
·研磨盘转速对去除率及表面粗糙度的影响 | 第24-25页 |
·研磨液流量对去除率及表面粗糙度的影响 | 第25-26页 |
·研磨压力对去除率及表面粗糙度的影响 | 第26-27页 |
·研磨盘硬度对表面粗糙度的影响 | 第27-28页 |
·研磨参数的选取 | 第28-29页 |
·本章小结 | 第29-30页 |
3 单晶MgO基片表面形貌的检测方法试验研究 | 第30-41页 |
·表面形貌检测实验设备 | 第30-33页 |
·光学显微镜 | 第30-31页 |
·三维表面形貌轮廓仪 | 第31-33页 |
·扫描电子显微镜 | 第33页 |
·表面形貌检测结果 | 第33-39页 |
·光学显微镜的检测结果 | 第34-36页 |
·三维表面形貌轮廓仪的检测结果 | 第36-38页 |
·扫描电子显微镜的检测结果 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-41页 |
4 单晶 MgO基片亚表面损伤检测的试验研究 | 第41-65页 |
·逐层腐蚀法实验研究 | 第41-48页 |
·实验条件 | 第42页 |
·实验结果 | 第42-48页 |
·截面显微法的实验研究 | 第48-58页 |
·截面显微法 | 第48-50页 |
·亚表面损伤深度的检测与分析 | 第50-55页 |
·对损伤深度的统计 | 第55-58页 |
·对截面观测结果的分析 | 第58-63页 |
·对损伤层形貌的分析 | 第58-61页 |
·对损伤层深度的分析 | 第61-63页 |
·对截面显微法与逐层腐蚀法实验结果存在差异的分析 | 第63-64页 |
·本章小结 | 第64-65页 |
结论与展望 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-71页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |