测井资料环境校正、标准化处理程序设计与实现
| 1 引言 | 第1-11页 |
| ·选题依据 | 第7-8页 |
| ·环境校正的必要性 | 第7-8页 |
| ·标准化处理的必要性 | 第8页 |
| ·国内外研究现状及存在问题 | 第8-10页 |
| ·环境校正的发展及存在问题 | 第8-9页 |
| ·标准化的发展、主要方法及认识 | 第9-10页 |
| ·本文主要研究内容 | 第10-11页 |
| 2 测井曲线环境影响因素及程序设计 | 第11-20页 |
| ·测井曲线的环境影响因素 | 第11-15页 |
| ·岩性-孔隙度测井曲线 | 第11-13页 |
| ·电阻率测井曲线 | 第13-15页 |
| ·环境校正程序设计 | 第15-20页 |
| ·开发环境 | 第15页 |
| ·运行环境 | 第15页 |
| ·程序设计思想 | 第15-18页 |
| ·关于Forward平台 | 第18-20页 |
| 3 CLS3700测井曲线环境校正 | 第20-62页 |
| ·Atlas图版的环境校正方法 | 第20-40页 |
| ·自然伽马(GR)测井曲线的环境校正 | 第20-23页 |
| ·自然伽马能谱测井(NGS)曲线的环境校正 | 第23-24页 |
| ·补偿中子测井曲线的环境校正 | 第24-31页 |
| ·密度测井曲线的环境影响校正 | 第31-33页 |
| ·对声波测井曲线的编辑 | 第33页 |
| ·微电阻率测井曲线的校正 | 第33-34页 |
| ·感应测井曲线的校正 | 第34-37页 |
| ·侧向测井视电阻率曲线的校正 | 第37-40页 |
| ·环境校正的模型及算法 | 第40-52页 |
| ·对2420补偿中子测井仪建立的井径校正模型 | 第40-41页 |
| ·侧向测井的校正模型 | 第41-44页 |
| ·电阻率测井泥浆侵入校正模型及算法 | 第44-50页 |
| ·插值算法的描述 | 第50-52页 |
| ·实际资料处理及效果分析 | 第52-62页 |
| ·伽马测井的环境校正 | 第52-53页 |
| ·伽马能谱测井铀(U)曲线的校正 | 第53-54页 |
| ·补偿中子测井曲线的校正 | 第54-57页 |
| ·密度测井曲线的校正 | 第57页 |
| ·声波测井曲线的编辑 | 第57-58页 |
| ·微电阻率测井曲线的校正 | 第58-59页 |
| ·感应测井曲线的校正 | 第59-61页 |
| ·侧向测井曲线的校正 | 第61-62页 |
| 4 CSU测井曲线的环境校正 | 第62-80页 |
| ·CSU图版的环境校正方法 | 第62-77页 |
| ·对GR曲线的CSU图版的拟合及环境校正 | 第62-71页 |
| ·CSU图版的泥浆侵入校正 | 第71-77页 |
| ·实际资料处理及效果分析 | 第77-80页 |
| ·重晶石泥浆影响校正 | 第77页 |
| ·井径及泥浆影响校正 | 第77-79页 |
| ·随钻测井(LWD)的环境校正 | 第79-80页 |
| 5 测井资料的标准化处理 | 第80-101页 |
| ·用直方图法实现测井数据的标准化处理 | 第80-85页 |
| ·直方图实现标准化的基本思想和实现步骤 | 第80页 |
| ·直方图法的常规实现 | 第80-82页 |
| ·利用Fortran语言对直方图法编程实现 | 第82-85页 |
| ·用趋势面分析方法实现测井数据的标准化处理 | 第85-95页 |
| ·趋势面分析方法概述 | 第85-86页 |
| ·趋势面分析的一般数学方法 | 第86-87页 |
| ·趋势面分析方法的常规实现方法 | 第87-89页 |
| ·用Fortran语言编程实现趋势面分析方法 | 第89-95页 |
| ·用均值-方差法实现测井资料的标准化 | 第95-101页 |
| ·概述 | 第95-96页 |
| ·公式推导 | 第96-97页 |
| ·实现步骤 | 第97页 |
| ·编程实现 | 第97-101页 |
| 6 结论与建议 | 第101-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-105页 |
| 附录一: Atlas程序的输入、输出曲线 | 第105-107页 |
| 附录二: Atlas程序参数列表 | 第107-111页 |
| 附录三: SCHL程序的输入、输出曲线 | 第111-112页 |
| 附录四: SCHL程序参数列表 | 第112-113页 |
