| 摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 第一章 引言 | 第9-16页 |
| ·ZnO 材料的基本特性 | 第9-10页 |
| ·ZnO 的研究进展 | 第10-14页 |
| ·ZnO 的紫外激光的研究进展 | 第10-11页 |
| ·ZnO 高质量薄膜生长的研究进展 | 第11-12页 |
| ·ZnO 一维材料的研究进展 | 第12-14页 |
| ·本论文的工作 | 第14-16页 |
| 第二章 等离子体辅助分子束外延方法的特点和样品表征方法简介 | 第16-29页 |
| ·等离子体辅助分子束外延方法 | 第16-18页 |
| ·分子束外延(MBE) | 第16-18页 |
| ·等离子体辅助分子束外延(P-MBE) | 第18页 |
| ·样品的表征方法简介 | 第18-29页 |
| ·X 射线衍射的原理 | 第18-21页 |
| ·反射式高能电子衍射仪(RHEED) | 第21页 |
| ·原子力显微成像(AFM) | 第21-23页 |
| ·发光光谱 | 第23-25页 |
| ·扫描电子显微技术 | 第25-27页 |
| ·场发射的原理及 F-N 理论 | 第27-29页 |
| 第三章 衬底温度对 ZnO 薄膜结构和光学性质的影响 | 第29-39页 |
| ·样品的制备 | 第29-30页 |
| ·结果和讨论: | 第30-38页 |
| ·ZnO 薄膜的结构分析 | 第30-32页 |
| ·ZnO 薄膜的光学性质分析 | 第32-36页 |
| ·ZnO 薄膜紫外发射的起因 | 第36-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 低温缓冲层对 ZnO 薄膜结构和光学性质的影响 | 第39-45页 |
| ·具体的实验过程及样品的制备 | 第39-40页 |
| ·结果和讨论 | 第40-44页 |
| ·ZnO 薄膜的结构分析 | 第40-41页 |
| ·ZnO 薄膜的表面形貌的分析 | 第41-43页 |
| ·ZnO 薄膜的 RHEED 图像分析 | 第43页 |
| ·ZnO 薄膜的光学性质的分析 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第五章 ZnO 纳米管的制备及其性质的研究 | 第45-54页 |
| ·ZnO 纳米管的研究意义及进展 | 第45-47页 |
| ·具体的实验过程及样品的制备 | 第47-48页 |
| ·结果与讨论 | 第48-53页 |
| ·ZnO 纳米管表面形貌的研究 | 第48页 |
| ·ZnO 纳米管的结构分析 | 第48-49页 |
| ·ZnO 纳米管的光学特性分析 | 第49页 |
| ·ZnO 纳米管的变温光致发光谱 | 第49-52页 |
| ·ZnO 纳米管的场发射性质 | 第52-53页 |
| ·讨论 | 第53页 |
| ·小结 | 第53-54页 |
| 第六章 结论 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第64页 |
