第一章 绪论 | 第1-21页 |
1.1 课题背景 | 第8-13页 |
1.1.1 “理想的能源”——聚变能 | 第8-9页 |
1.1.2 亟待解决的难题——受控核聚变 | 第9-10页 |
1.1.3 受控核聚变的最佳技术途径——激光核聚变 | 第10-11页 |
1.1.4 激光核聚变的历史性机遇——核禁试条约的签订 | 第11-13页 |
1.2 问题的提出 | 第13-18页 |
1.2.1 高功率固体激光装置的辉煌发展 | 第13-14页 |
1.2.2 激光多程放大系统 | 第14-15页 |
1.2.3 多程放大系统杂散光分析 | 第15-18页 |
1.3 本课题的研究内容 | 第18-21页 |
第二章 杂散光概述 | 第21-31页 |
2.1 杂散光的来源 | 第21-23页 |
2.1.1 由组成系统的光学零件所产生的杂散光 | 第21-22页 |
2.1.2 光学系统中的机械零件产生的杂散光 | 第22-23页 |
2.2 杂散光的危害 | 第23-24页 |
2.2.1 影响系统成像质量 | 第23页 |
2.2.2 影响像的彩色还原 | 第23-24页 |
2.2.3 损伤系统中光学元件 | 第24页 |
2.2.4 影响光束质量和传输特性 | 第24页 |
2.3 杂散光的常用计算方法 | 第24-28页 |
2.3.1 蒙特卡罗(Monte Carto)法 | 第25页 |
2.3.2 光线追迹法 | 第25-26页 |
2.3.3 近轴近似法 | 第26-27页 |
2.3.4 光流密度追迹法 | 第27-28页 |
2.4 杂散光的常用测量方法 | 第28-31页 |
2.4.1 黑斑法 | 第28页 |
2.4.2 点源法 | 第28-29页 |
2.4 总述 | 第29-31页 |
第三章 激光多程放大系统鬼像分析的研究对象和研究方法 | 第31-42页 |
3.1 激光多程放大系统的基本构型 | 第31-36页 |
3.1.1 前端 | 第33页 |
3.1.2 预放级 | 第33-34页 |
3.1.3 主放大级 | 第34-35页 |
3.1.4 诊断靶场系统 | 第35-36页 |
3.2 激光多程放大系统鬼像分析的研究方法 | 第36-40页 |
3.2.1 光线光学方法 | 第36-37页 |
3.2.2 近轴光线传播定律 | 第37-38页 |
3.2.3 空间光线传播定律 | 第38-40页 |
3.3 程序设计语言 | 第40-42页 |
第四章 激光多程放大系统鬼像分析的技术路线 | 第42-51页 |
4.1 高功率激光装置中杂散光特点 | 第42-43页 |
4.2 杂散光分析模型 | 第43-46页 |
4.2.1 鬼像的来源 | 第43-44页 |
4.2.2 光线高密取样 | 第44-45页 |
4.2.3 鬼像影响区域 | 第45-46页 |
4.3 杂散光分析技术路线及数据结构 | 第46-51页 |
第五章 多程放大系统鬼像分析软件 | 第51-64页 |
5.1 鬼像分析软件系统分析及开发计划 | 第51-55页 |
5.1.1 系统分析 | 第51页 |
5.1.2 可行性分析 | 第51-52页 |
5.1.3 软件开发计划 | 第52-55页 |
5.4 软件设计与编码 | 第55-61页 |
5.4.1 系统结构参数的输入与修改 | 第55-58页 |
5.4.2 初级像差计算与鬼像近轴分析 | 第58-59页 |
5.4.3 实际光线鬼像分析 | 第59-60页 |
5.4.4 规范的编码方法 | 第60-61页 |
5.5 软件测试 | 第61-62页 |
5.6 软件维护 | 第62页 |
5.7 小结 | 第62-64页 |
第六章 光线追迹子程序中若干重要问题的处理 | 第64-78页 |
6.1 标准面(Standard)光线追迹程序处理 | 第64-67页 |
6.2 非球面(Asphere)光线追迹程序处理 | 第67-71页 |
6.3 偏心倾斜问题(CoordBreak面型)的处理 | 第71-75页 |
6.4 其它需要特殊考虑的问题 | 第75-78页 |
第七章 杂散光分析软件的功能概述和实例计算 | 第78-84页 |
7.1 系统结构参数的输入与修改 | 第78页 |
7.2 初级像差计算与鬼像近轴分析 | 第78-79页 |
7.3 实际光线鬼像分析 | 第79页 |
7.4 杂光实例计算 | 第79-84页 |
第八章 课题结论与展望 | 第84-87页 |
8.1 软件的主要特点 | 第84-85页 |
8.2 课题展望 | 第85-87页 |
攻读硕士学位期间发表的文章 | 第87页 |