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铅系弛豫铁电陶瓷的制备和介电性能的研究

中文摘要第1-6页
英文摘要第6-10页
目录第10-15页
第一章 绪论第15-32页
 1.1 研究的背景与意义第15-16页
 1.2 弛豫铁电陶瓷的研究现状及存在的问题第16-27页
  1.2.1 弛豫铁电陶瓷的特征第16-17页
  1.2.2 弛豫特性的机制简介第17页
  1.2.3 制备技术第17-21页
  1.2.4 制备反应机理第21-23页
  1.2.5 低温烧结技术第23-25页
   1.2.5.1 改善低温烧结的PFW陶瓷的低电阻率缺点第23-24页
   1.2.5.2 添加低熔点玻璃或化合物第24页
   1.2.5.3 形成固溶体第24-25页
   1.2.5.4 提高粉体活性第25页
  1.2.6 介电温度稳定性的研究第25-27页
   1.2.6.1 微量掺杂法第25-26页
   1.2.6.2 复相陶瓷烧结法第26页
   1.2.6.3 叠层技术第26页
   1.2.6.4 “芯-壳”结构法第26-27页
 1.3 论文的主要研究内容及技术路线第27-28页
 1.4 本文的主要成果及创新第28页
 参考文献第28-32页
第二章 实验方法第32-38页
 2.1 陶瓷样品的制备工艺第32-35页
  2.1.1 半化学法制备工艺第32-33页
  2.1.2 低温烧结陶瓷的制备工艺第33-35页
  2.1.3 “芯-壳”结构陶瓷的制备工艺第35页
 2.2 陶瓷的相组成分析第35页
 2.3 微观组织分析第35页
 2.4 TG、DTG、DTA、DSC热分析第35页
 2.5 陶瓷样品的密度第35-36页
 2.6 陶瓷样品的线收缩率第36页
 2.7 陶瓷样品的介电性能第36页
 2.8 陶瓷样品的介电温度稳定性第36-37页
  2.8.1 单相固溶体陶瓷样品的介电温度稳定性第36-37页
  2.8.2 “芯-壳”结构陶瓷的介电温度稳定性第37页
 2.9 陶瓷样品中各元素含量的分析第37-38页
第三章 半化学法制备PMN基陶瓷及介电性能的研究第38-55页
 3.1 前言第38-39页
 3.2 活化反应组分的选择第39-43页
  3.2.1 活化MgO、PbO和TiO_2对0.80PMN-0.20PT相组成的影响第39-40页
  3.2.2 不同镁的化合物代替氧化镁对0.80PMN-0.20PT相组成的影响第40页
  3.2.3 钛酸四丁酯和醋酸镁的协同作用及醋酸对PMN-PT相组成的影响第40-42页
  3.2.4 钙钛矿结构籽晶对0.80PMN-0.20PT相组成的影响第42-43页
  3.2.5 半化学法中镁盐的选择原则第43页
 3.3 半化学法制备0.80PMN-0.20PT陶瓷的工艺及介电性能研究第43-49页
  3.3.1 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响第43-45页
   3.3.1.1 预烧温度对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响第43-44页
   3.3.1.2 预烧时间对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响第44页
   3.3.1.3 烧结温度和保温时间对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响第44-45页
  3.3.2 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT显微组织的影响第45-48页
  3.3.3 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷介电性能的影响第48-49页
   3.3.3.1 预烧温度对陶瓷介电性能的影响第48页
   3.3.3.2 烧结温度对陶瓷介电性能的影响第48-49页
 3.4 半化学法与传统氧化物混合法和二次合成法的比较第49-52页
  3.4.1 制备工艺的比较第49-50页
  3.4.2 SCM法和CMO法相组成的比较第50-51页
  3.4.3 显微组织的比较第51页
  3.4.4 介电性能的比较第51-52页
 3.5 PT含量对PMN-PT显微结构和介电性能的影响第52-53页
 3.6 本章小结第53-54页
 参考文献第54-55页
第四章 半化学法制备PNN基陶瓷及介电性能的研究第55-71页
 4.1 前言第55页
 4.2 半化学法制备0.75PNN-0.25PT陶瓷的工艺及介电性能的研究第55-59页
  4.2.1 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响第55-57页
   4.2.1.1 预烧温度对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响第55-56页
   4.2.1.2 烧结温度和保温时间对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响第56-57页
  4.2.2 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响第57-58页
  4.2.3 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响第58-59页
   4.2.3.1 烧结温度对陶瓷介电性能的影响第58-59页
   4.2.3.2 保温时间对陶瓷介电性能的影响第59页
 4.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微结构和介电性能的研究第59-62页
  4.3.1 过量NiO对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响第59-60页
  4.3.2 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响第60页
  4.3.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT显微组织的影响第60-61页
  4.3.4 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响第61-62页
 4.4 PT含量对0.75PNN-0.25PT显微结构和介电性能的影响第62-66页
  4.4.1 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响第63页
  4.4.2 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响第63-64页
  4.4.3 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响第64-66页
 4.5 掺锰对PNN-PT陶瓷显微结构及介电性能的影响第66-69页
  4.5.1 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响第66-67页
  4.5.2 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响第67-68页
  4.5.3 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响第68-69页
 4.6 本章小结第69-70页
 参考文献第70-71页
第五章 半化学法制备PFW基陶瓷及介电性能的研究第71-88页
 5.1 前言第71-72页
 5.2 半化学法制备PFW陶瓷的工艺及介电性能的研究第72-75页
  5.2.1 铁盐的选择第72页
  5.2.2 制备工艺参数对PFW陶瓷相结构的影响第72-73页
   5.2.2.1 预烧温度和保温时间对PFW预烧粉体相结构的影响第72-73页
   5.2.2.2 烧结温度和保温时间对PFW陶瓷相结构的影响第73页
  5.2.3 制备工艺参数对PFW显微组织的影响第73-74页
  5.2.4 制备工艺参数对PFW陶瓷介电性能的影响第74-75页
   5.2.4.1 预烧温度对介电性能的影响第74-75页
   5.2.4.2 烧结温度和保温时间对介电性能的影响第75页
 5.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微结构和介电性能的影响第75-78页
  5.3.1 过量PbO及Fe_2O_3对PFW预烧粉体和陶瓷相结构的影响第75-76页
  5.3.2 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微组织的影响第76-77页
  5.3.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷介电性能的影响第77-78页
 5.4 半化学法与传统氧化物混和法和二次合成法的比较第78-80页
  5.4.1 制备工艺的比较第78页
  5.4.2 相组成的比较第78-79页
  5.4.3 显微组织的比较第79-80页
  5.4.4 介电性能的比较第80页
 5.5 掺锰对PFW陶瓷显微结构及介电性能的影响第80-83页
  5.5.1 掺锰对PFW陶瓷相结构的影响第81页
  5.5.2 掺锰对PFW陶瓷显微组织的影响第81页
  5.5.3 掺锰对PFW陶瓷电阻率影响第81-82页
  5.5.4 掺锰对PFW陶瓷介电性能的影响第82-83页
 5.6 PT含量对PFW-PT显微结构和介电性能的影响第83-85页
  5.6.1 PT含量对PFW-PT陶瓷相结构的影响第83-84页
  5.6.2 PT含量对PFW-PT陶瓷显微组织的影响第84页
  5.6.3 PT含量对PFW-PT陶瓷介电性能的影响第84-85页
 5.7 本章小结第85-86页
 参考文献第86-88页
第六章 半化学法制备PMN基、PFW陶瓷粉体反应机理的研究第88-98页
 6.1 前言第88页
 6.2 半化学法制备PMN-PT陶瓷粉体的固态反应机理第88-92页
  6.2.1 预烧粉体的相组成分析第88-91页
  6.2.2 PMN-PT的固态反应机理第91页
  6.2.3 SCM法和SMO法反应机理的比较第91-92页
 6.3 半化学法制备PFW陶瓷粉体反应机理的研究第92-95页
  6.3.1 预烧粉体的相组成分析第92-94页
  6.3.2 PFW的固态反应机理第94页
  6.3.3 SCM法和SMO法反应机理的比较第94-95页
 6.4 本章小结第95-96页
 参考文献第96-98页
第七章 助烧剂对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响第98-109页
 7.1 前言第98页
 7.2 复合助烧剂的陶瓷显微结构和介电性能的影响第98-103页
  7.2.1 样品的相组成第98-99页
  7.2.2 样品的显微组织第99-100页
  7.2.3 样品介电性能第100-103页
 7.3 掺CdO对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响第103-108页
  7.3.1 掺CdO的0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成第103-104页
  7.3.2 样品烧结前后质量变化第104-105页
  7.3.3 掺CdO样品的显微组织第105-106页
  7.3.4 掺CdO陶瓷的介电性能第106-108页
   7.3.4.1 烧结温度对掺CdO陶瓷介电性能的影响第106-107页
   7.3.4.2 掺杂CdO量对陶瓷样品介电性能的影响第107-108页
 7.4 本章小结第108页
 参考文献第108-109页
第八章 PMW-PNN-PT陶瓷的制备及其介电温度稳定性的研究第109-126页
 8.1 前言第109-110页
 8.2 烧结温对陶瓷相组成、显微组织及其介电性能的影响第110-112页
  8.2.1 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷相组成的影响第110-111页
  8.2.2 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响第111页
  8.2.3 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响第111-112页
 8.3 过量MgO、PbO和WO_3对陶瓷显微结构及介电性能的影响第112-115页
  8.3.1 对PMW-PNN-PT预烧粉体相结构的影响第112-113页
  8.3.2 对PMW-PNN-PT陶瓷相结构的影响第113页
  8.3.3 对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响第113-114页
  8.3.4 对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响第114-115页
 8.4 组成配比对陶瓷显微结构及介电性能的影响第115-117页
  8.4.1 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷相结构的影响第115页
  8.4.2 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷显微组织的影响第115-116页
  8.4.3 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷介电性能的影响第116-117页
 8.5 SCM法与CMO法和CPM法的比较第117-120页
  8.5.1 制备工艺比较第117页
  8.5.2 相组成比较第117-118页
  8.5.3 显微组织比较第118页
  8.5.4 介电性能比较第118-119页
  8.5.5 半化学法对PMW-PNN-PT陶瓷介电温度稳定性的影响第119-120页
 8.6 PMW-PNN-PT陶瓷的“芯-壳”结构的形成机制第120-123页
 8.7 “芯-壳”结构改善陶瓷介电温度稳定性的机制第123-124页
 8.8 本章小结第124-125页
 参考文献第125-126页
第九章 全文结论和进一步研究工作的建议第126-130页
 9.1 全文主要结论第126-128页
 9.2 进一步研究工作的建议第128-130页
致谢第130-131页
攻读博士学位期间发表的学术论文第131页

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