中文摘要 | 第1-6页 |
英文摘要 | 第6-10页 |
目录 | 第10-15页 |
第一章 绪论 | 第15-32页 |
1.1 研究的背景与意义 | 第15-16页 |
1.2 弛豫铁电陶瓷的研究现状及存在的问题 | 第16-27页 |
1.2.1 弛豫铁电陶瓷的特征 | 第16-17页 |
1.2.2 弛豫特性的机制简介 | 第17页 |
1.2.3 制备技术 | 第17-21页 |
1.2.4 制备反应机理 | 第21-23页 |
1.2.5 低温烧结技术 | 第23-25页 |
1.2.5.1 改善低温烧结的PFW陶瓷的低电阻率缺点 | 第23-24页 |
1.2.5.2 添加低熔点玻璃或化合物 | 第24页 |
1.2.5.3 形成固溶体 | 第24-25页 |
1.2.5.4 提高粉体活性 | 第25页 |
1.2.6 介电温度稳定性的研究 | 第25-27页 |
1.2.6.1 微量掺杂法 | 第25-26页 |
1.2.6.2 复相陶瓷烧结法 | 第26页 |
1.2.6.3 叠层技术 | 第26页 |
1.2.6.4 “芯-壳”结构法 | 第26-27页 |
1.3 论文的主要研究内容及技术路线 | 第27-28页 |
1.4 本文的主要成果及创新 | 第28页 |
参考文献 | 第28-32页 |
第二章 实验方法 | 第32-38页 |
2.1 陶瓷样品的制备工艺 | 第32-35页 |
2.1.1 半化学法制备工艺 | 第32-33页 |
2.1.2 低温烧结陶瓷的制备工艺 | 第33-35页 |
2.1.3 “芯-壳”结构陶瓷的制备工艺 | 第35页 |
2.2 陶瓷的相组成分析 | 第35页 |
2.3 微观组织分析 | 第35页 |
2.4 TG、DTG、DTA、DSC热分析 | 第35页 |
2.5 陶瓷样品的密度 | 第35-36页 |
2.6 陶瓷样品的线收缩率 | 第36页 |
2.7 陶瓷样品的介电性能 | 第36页 |
2.8 陶瓷样品的介电温度稳定性 | 第36-37页 |
2.8.1 单相固溶体陶瓷样品的介电温度稳定性 | 第36-37页 |
2.8.2 “芯-壳”结构陶瓷的介电温度稳定性 | 第37页 |
2.9 陶瓷样品中各元素含量的分析 | 第37-38页 |
第三章 半化学法制备PMN基陶瓷及介电性能的研究 | 第38-55页 |
3.1 前言 | 第38-39页 |
3.2 活化反应组分的选择 | 第39-43页 |
3.2.1 活化MgO、PbO和TiO_2对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 | 第39-40页 |
3.2.2 不同镁的化合物代替氧化镁对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 | 第40页 |
3.2.3 钛酸四丁酯和醋酸镁的协同作用及醋酸对PMN-PT相组成的影响 | 第40-42页 |
3.2.4 钙钛矿结构籽晶对0.80PMN-0.20PT相组成的影响 | 第42-43页 |
3.2.5 半化学法中镁盐的选择原则 | 第43页 |
3.3 半化学法制备0.80PMN-0.20PT陶瓷的工艺及介电性能研究 | 第43-49页 |
3.3.1 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响 | 第43-45页 |
3.3.1.1 预烧温度对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响 | 第43-44页 |
3.3.1.2 预烧时间对0.80PMN-0.20PT预烧粉体相组成的影响 | 第44页 |
3.3.1.3 烧结温度和保温时间对0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成的影响 | 第44-45页 |
3.3.2 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT显微组织的影响 | 第45-48页 |
3.3.3 制备工艺参数对0.80PMN-0.20PT陶瓷介电性能的影响 | 第48-49页 |
3.3.3.1 预烧温度对陶瓷介电性能的影响 | 第48页 |
3.3.3.2 烧结温度对陶瓷介电性能的影响 | 第48-49页 |
3.4 半化学法与传统氧化物混合法和二次合成法的比较 | 第49-52页 |
3.4.1 制备工艺的比较 | 第49-50页 |
3.4.2 SCM法和CMO法相组成的比较 | 第50-51页 |
3.4.3 显微组织的比较 | 第51页 |
3.4.4 介电性能的比较 | 第51-52页 |
3.5 PT含量对PMN-PT显微结构和介电性能的影响 | 第52-53页 |
3.6 本章小结 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-55页 |
第四章 半化学法制备PNN基陶瓷及介电性能的研究 | 第55-71页 |
4.1 前言 | 第55页 |
4.2 半化学法制备0.75PNN-0.25PT陶瓷的工艺及介电性能的研究 | 第55-59页 |
4.2.1 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 | 第55-57页 |
4.2.1.1 预烧温度对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 | 第55-56页 |
4.2.1.2 烧结温度和保温时间对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 | 第56-57页 |
4.2.2 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 | 第57-58页 |
4.2.3 制备工艺参数对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 | 第58-59页 |
4.2.3.1 烧结温度对陶瓷介电性能的影响 | 第58-59页 |
4.2.3.2 保温时间对陶瓷介电性能的影响 | 第59页 |
4.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微结构和介电性能的研究 | 第59-62页 |
4.3.1 过量NiO对0.75PNN-0.25PT预烧粉体相组成的影响 | 第59-60页 |
4.3.2 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 | 第60页 |
4.3.3 过量NiO对0.75PNN-0.25PT显微组织的影响 | 第60-61页 |
4.3.4 过量NiO对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 | 第61-62页 |
4.4 PT含量对0.75PNN-0.25PT显微结构和介电性能的影响 | 第62-66页 |
4.4.1 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 | 第63页 |
4.4.2 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 | 第63-64页 |
4.4.3 PT含量对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 | 第64-66页 |
4.5 掺锰对PNN-PT陶瓷显微结构及介电性能的影响 | 第66-69页 |
4.5.1 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷相组成的影响 | 第66-67页 |
4.5.2 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷显微组织的影响 | 第67-68页 |
4.5.3 掺锰对0.75PNN-0.25PT陶瓷介电性能的影响 | 第68-69页 |
4.6 本章小结 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-71页 |
第五章 半化学法制备PFW基陶瓷及介电性能的研究 | 第71-88页 |
5.1 前言 | 第71-72页 |
5.2 半化学法制备PFW陶瓷的工艺及介电性能的研究 | 第72-75页 |
5.2.1 铁盐的选择 | 第72页 |
5.2.2 制备工艺参数对PFW陶瓷相结构的影响 | 第72-73页 |
5.2.2.1 预烧温度和保温时间对PFW预烧粉体相结构的影响 | 第72-73页 |
5.2.2.2 烧结温度和保温时间对PFW陶瓷相结构的影响 | 第73页 |
5.2.3 制备工艺参数对PFW显微组织的影响 | 第73-74页 |
5.2.4 制备工艺参数对PFW陶瓷介电性能的影响 | 第74-75页 |
5.2.4.1 预烧温度对介电性能的影响 | 第74-75页 |
5.2.4.2 烧结温度和保温时间对介电性能的影响 | 第75页 |
5.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微结构和介电性能的影响 | 第75-78页 |
5.3.1 过量PbO及Fe_2O_3对PFW预烧粉体和陶瓷相结构的影响 | 第75-76页 |
5.3.2 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷显微组织的影响 | 第76-77页 |
5.3.3 过量PbO及Fe_2O_3对PFW陶瓷介电性能的影响 | 第77-78页 |
5.4 半化学法与传统氧化物混和法和二次合成法的比较 | 第78-80页 |
5.4.1 制备工艺的比较 | 第78页 |
5.4.2 相组成的比较 | 第78-79页 |
5.4.3 显微组织的比较 | 第79-80页 |
5.4.4 介电性能的比较 | 第80页 |
5.5 掺锰对PFW陶瓷显微结构及介电性能的影响 | 第80-83页 |
5.5.1 掺锰对PFW陶瓷相结构的影响 | 第81页 |
5.5.2 掺锰对PFW陶瓷显微组织的影响 | 第81页 |
5.5.3 掺锰对PFW陶瓷电阻率影响 | 第81-82页 |
5.5.4 掺锰对PFW陶瓷介电性能的影响 | 第82-83页 |
5.6 PT含量对PFW-PT显微结构和介电性能的影响 | 第83-85页 |
5.6.1 PT含量对PFW-PT陶瓷相结构的影响 | 第83-84页 |
5.6.2 PT含量对PFW-PT陶瓷显微组织的影响 | 第84页 |
5.6.3 PT含量对PFW-PT陶瓷介电性能的影响 | 第84-85页 |
5.7 本章小结 | 第85-86页 |
参考文献 | 第86-88页 |
第六章 半化学法制备PMN基、PFW陶瓷粉体反应机理的研究 | 第88-98页 |
6.1 前言 | 第88页 |
6.2 半化学法制备PMN-PT陶瓷粉体的固态反应机理 | 第88-92页 |
6.2.1 预烧粉体的相组成分析 | 第88-91页 |
6.2.2 PMN-PT的固态反应机理 | 第91页 |
6.2.3 SCM法和SMO法反应机理的比较 | 第91-92页 |
6.3 半化学法制备PFW陶瓷粉体反应机理的研究 | 第92-95页 |
6.3.1 预烧粉体的相组成分析 | 第92-94页 |
6.3.2 PFW的固态反应机理 | 第94页 |
6.3.3 SCM法和SMO法反应机理的比较 | 第94-95页 |
6.4 本章小结 | 第95-96页 |
参考文献 | 第96-98页 |
第七章 助烧剂对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响 | 第98-109页 |
7.1 前言 | 第98页 |
7.2 复合助烧剂的陶瓷显微结构和介电性能的影响 | 第98-103页 |
7.2.1 样品的相组成 | 第98-99页 |
7.2.2 样品的显微组织 | 第99-100页 |
7.2.3 样品介电性能 | 第100-103页 |
7.3 掺CdO对0.80PMN-0.20PT陶瓷显微结构和介电性能的影响 | 第103-108页 |
7.3.1 掺CdO的0.80PMN-0.20PT陶瓷相组成 | 第103-104页 |
7.3.2 样品烧结前后质量变化 | 第104-105页 |
7.3.3 掺CdO样品的显微组织 | 第105-106页 |
7.3.4 掺CdO陶瓷的介电性能 | 第106-108页 |
7.3.4.1 烧结温度对掺CdO陶瓷介电性能的影响 | 第106-107页 |
7.3.4.2 掺杂CdO量对陶瓷样品介电性能的影响 | 第107-108页 |
7.4 本章小结 | 第108页 |
参考文献 | 第108-109页 |
第八章 PMW-PNN-PT陶瓷的制备及其介电温度稳定性的研究 | 第109-126页 |
8.1 前言 | 第109-110页 |
8.2 烧结温对陶瓷相组成、显微组织及其介电性能的影响 | 第110-112页 |
8.2.1 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷相组成的影响 | 第110-111页 |
8.2.2 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响 | 第111页 |
8.2.3 烧结温度对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响 | 第111-112页 |
8.3 过量MgO、PbO和WO_3对陶瓷显微结构及介电性能的影响 | 第112-115页 |
8.3.1 对PMW-PNN-PT预烧粉体相结构的影响 | 第112-113页 |
8.3.2 对PMW-PNN-PT陶瓷相结构的影响 | 第113页 |
8.3.3 对PMW-PNN-PT陶瓷显微组织的影响 | 第113-114页 |
8.3.4 对PMW-PNN-PT陶瓷介电性能的影响 | 第114-115页 |
8.4 组成配比对陶瓷显微结构及介电性能的影响 | 第115-117页 |
8.4.1 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷相结构的影响 | 第115页 |
8.4.2 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷显微组织的影响 | 第115-116页 |
8.4.3 组成配比对xPMW-yPNN-(1-x-y)PT陶瓷介电性能的影响 | 第116-117页 |
8.5 SCM法与CMO法和CPM法的比较 | 第117-120页 |
8.5.1 制备工艺比较 | 第117页 |
8.5.2 相组成比较 | 第117-118页 |
8.5.3 显微组织比较 | 第118页 |
8.5.4 介电性能比较 | 第118-119页 |
8.5.5 半化学法对PMW-PNN-PT陶瓷介电温度稳定性的影响 | 第119-120页 |
8.6 PMW-PNN-PT陶瓷的“芯-壳”结构的形成机制 | 第120-123页 |
8.7 “芯-壳”结构改善陶瓷介电温度稳定性的机制 | 第123-124页 |
8.8 本章小结 | 第124-125页 |
参考文献 | 第125-126页 |
第九章 全文结论和进一步研究工作的建议 | 第126-130页 |
9.1 全文主要结论 | 第126-128页 |
9.2 进一步研究工作的建议 | 第128-130页 |
致谢 | 第130-131页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第131页 |