摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-11页 |
第1章 引言 | 第11-36页 |
·概述 | 第11-13页 |
·碳纳米管的实验制备 | 第13-15页 |
·碳纳米管的基本性质 | 第15-17页 |
·碳纳米管的几何结构 | 第15-17页 |
·碳纳米管的电子性质 | 第17页 |
·碳纳米管中的拓扑缺陷 | 第17-19页 |
·碳纳米管管壁的分子吸附 | 第19-21页 |
·碳纳米管的场发射性质 | 第21-23页 |
·场发射的一般理论 | 第21页 |
·碳纳米管的场发射 | 第21-22页 |
·缺陷吸附对碳纳米管场发射性质的调节 | 第22-23页 |
·碳纳米管的输运性质 | 第23-32页 |
·完整碳管的输运性质 | 第25-27页 |
·缺陷对碳纳米管输运性质的改变 | 第27-28页 |
·掺杂的效应 | 第28-30页 |
·气体分子吸附对碳管输运性质的影响 | 第30-31页 |
·碳管变形对输运性质的影响 | 第31-32页 |
·研究目的与研究内容 | 第32-36页 |
·论文研究目标 | 第32-34页 |
·各章主要内容 | 第34-36页 |
第2章 理论方法 | 第36-54页 |
·第一原理密度泛函理论 | 第36-40页 |
·多粒子薛定谔方程 | 第36-37页 |
·绝热近似 | 第37-38页 |
·Hohenberg-Kohn定理 | 第38页 |
·Kohn-Sham方程 | 第38-39页 |
·交换关联泛函 | 第39-40页 |
·体系的总能 | 第40页 |
·第一原理赝势平面波方法 | 第40-44页 |
·基于平面波基的Kohn-Sham方程 | 第41-42页 |
·k空间积分 | 第42页 |
·赝势方法 | 第42-44页 |
·第一原理团簇方法――DMol | 第44-47页 |
·基于原子轨道基的Kohn-Sham方程 | 第44-45页 |
·数值基组 | 第45-46页 |
·Mulliken占据数 | 第46页 |
·态密度 | 第46-47页 |
·计算电子输运性质的格林函数方法 | 第47-52页 |
·格林函数方法的基本公式 | 第47-49页 |
·TRANK程序中对于偏压的引入 | 第49-50页 |
·TRANK中使用的DFT程序SIESTA | 第50页 |
·TRANK程序流程 | 第50-52页 |
·结合第一原理与经验原子势的多尺度方法 | 第52-54页 |
·多尺度方法 | 第52-53页 |
·经验原子间相互作用势方法 | 第53-54页 |
第3章 气体吸附对碳纳米管场发射性质的影响 | 第54-65页 |
·本章引论 | 第54-55页 |
·模型及理论方法 | 第55页 |
·计算模型 | 第55页 |
·计算方法 | 第55页 |
·计算结果及讨论 | 第55-64页 |
·气体分子在碳管上的吸附 | 第55-61页 |
·甲基和羟基在碳管上的吸附 | 第61-64页 |
·结论 | 第64-65页 |
第4章 碳管拉伸的第一原理模拟及输运性质计算 | 第65-75页 |
·本章引论 | 第65页 |
·模型及理论方法 | 第65-66页 |
·第一原理计算 | 第65-66页 |
·输运性质计算 | 第66页 |
·计算结果和讨论 | 第66-73页 |
·不同应变下的几何结构 | 第66-68页 |
·CNT-DV体系输运性质计算 | 第68-71页 |
·CNT-DV体系的临界应变 | 第71-72页 |
·倾斜双空位体系的结构和透射函数 | 第72-73页 |
·相关的计算测试 | 第73页 |
·结论 | 第73-75页 |
第5章 碳管拉伸的多尺度模拟 | 第75-83页 |
·本章引论 | 第75页 |
·模型及理论方法 | 第75-77页 |
·杂化的多尺度方法 | 第75-76页 |
·输运性质计算 | 第76-77页 |
·计算结果和讨论 | 第77-81页 |
·使用多尺度方法弛豫几何结构 | 第77-78页 |
·中间区域的电子结构 | 第78-80页 |
·中心区的输运性质 | 第80页 |
·与上一章中VASP计算结果的对比 | 第80-81页 |
·结论 | 第81-83页 |
第6章 碳管双空位体系吸附氧气的第一原理模拟及输运性质计算 | 第83-95页 |
·本章引论 | 第83-84页 |
·模型及理论方法 | 第84页 |
·第一原理结构弛豫 | 第84页 |
·输运性质计算 | 第84页 |
·计算结果和讨论 | 第84-91页 |
·氧气在双空位处的物理吸附 | 第84-87页 |
·氧气在双空位处的化学吸附 | 第87-89页 |
·氧原子在碳管双空位处的化学吸附 | 第89-91页 |
·相关的计算测试 | 第91-93页 |
·不同偏压下电导的测试 | 第91-92页 |
·VASP与SIESTA计算的局域态密度的对比测试 | 第92-93页 |
·物理吸附中不同吸附距离的测试 | 第93页 |
·结论 | 第93-95页 |
第7章 结论 | 第95-98页 |
参考文献 | 第98-109页 |
致谢 | 第109-110页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第110-111页 |