线列红外探测器成像与评价系统设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·红外探测成像技术介绍 | 第7-8页 |
| ·红外探测成像现状与发展前景 | 第8-10页 |
| ·课题研究意义 | 第10页 |
| ·论文架构 | 第10-11页 |
| 第二章 线列探测器成像与评价系统架构 | 第11-22页 |
| ·系统性能要求 | 第11页 |
| ·系统架构方案 | 第11-12页 |
| ·红外探测器组件介绍 | 第12-16页 |
| ·上位机软件设计 | 第16-19页 |
| ·主控制器设计方案 | 第19-22页 |
| ·主控制器集成ADC | 第19-21页 |
| ·读出电路芯片集成ADC | 第21-22页 |
| 第三章 主控制器两种方案具体实现 | 第22-37页 |
| ·主控制器集成ADC | 第22-24页 |
| ·实现方案 | 第22页 |
| ·I~2C 主机实现 | 第22-23页 |
| ·模拟输出幅度调节 | 第23-24页 |
| ·读出电路集成ADC | 第24-27页 |
| ·实现方案 | 第24页 |
| ·FPGA 选型 | 第24-25页 |
| ·PCB 设计 | 第25-27页 |
| ·FPGA 代码设计 | 第27-37页 |
| ·总体结构设计 | 第27-28页 |
| ·上位机命令管理 | 第28-29页 |
| ·时钟管理 | 第29-30页 |
| ·数据采集设计 | 第30-31页 |
| ·数据传输设计 | 第31-32页 |
| ·功耗和速度优化设计 | 第32-37页 |
| 第四章 成像图像预处理 | 第37-45页 |
| ·盲元检测 | 第37-40页 |
| ·直方图校正 | 第40-41页 |
| ·非均匀性校正 | 第41-44页 |
| ·非均匀性校正原因 | 第41页 |
| ·非均匀性校正算法 | 第41-43页 |
| ·本文非均匀性校正实现方法 | 第43-44页 |
| ·行列变换和位置微调 | 第44-45页 |
| 第五章 探测器成像测试和红外组件评价 | 第45-58页 |
| ·探测器成像测试 | 第45-51页 |
| ·虚拟数据成像 | 第45-46页 |
| ·可见光探测器成像测试 | 第46-49页 |
| ·MCT 探测器成像测试 | 第49页 |
| ·InGaAs 探测器成像测试 | 第49-51页 |
| ·系统评价 | 第51-58页 |
| ·红外探测器组件评价 | 第51-53页 |
| ·红外读出电路评价 | 第53-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
