大功率LED可靠性快速筛选技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·LED发光原理 | 第10-11页 |
| ·课题研究背景 | 第11-13页 |
| ·国内外 LED可靠性测试方法研究现状 | 第13页 |
| ·本课题研究工作 | 第13-14页 |
| ·论文结构安排 | 第14-15页 |
| 第二章 LED光电参数与侧量方法 | 第15-24页 |
| ·电学特性 | 第15-17页 |
| ·光学特性 | 第17-23页 |
| ·光通量 | 第18页 |
| ·发光效率 | 第18-19页 |
| ·发光强度 | 第19页 |
| ·LED色度参数 | 第19-23页 |
| ·LED寿命 | 第23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 LED热敏参数与可靠性 | 第24-33页 |
| ·影响 LED可靠性的因素 | 第24-25页 |
| ·封装的散热问题 | 第24页 |
| ·LED材料中的缺陷 | 第24页 |
| ·其他因素 | 第24-25页 |
| ·LED结温 | 第25-27页 |
| ·结温与可靠性 | 第25-26页 |
| ·结温的测量 | 第26-27页 |
| ·LED热阻 | 第27-29页 |
| ·热阻与可靠性 | 第27-29页 |
| ·热阻测量 | 第29页 |
| ·LED热敏参数与可靠性 | 第29-31页 |
| ·LED正向压降 | 第30-31页 |
| ·LED反向漏电流 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第四章 大功率 LED理想因子 | 第33-40页 |
| ·LED理想因子计算 | 第33-34页 |
| ·测试系统与步骤 | 第34-35页 |
| ·测试系统 | 第34-35页 |
| ·测试步骤 | 第35页 |
| ·数据处理与曲线拟合 | 第35-39页 |
| ·最小二乘法算法 | 第35-36页 |
| ·理想因子拟合 | 第36-37页 |
| ·寿命曲线拟合 | 第37-38页 |
| ·理想因子与大功率LED寿命的关系 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 硬件电路设计 | 第40-48页 |
| ·系统总体结构设计 | 第40-41页 |
| ·系统总体结构 | 第40页 |
| ·系统主要性能指标 | 第40-41页 |
| ·数字电路设计 | 第41-43页 |
| ·微处理器选择 | 第41-42页 |
| ·I/O扩展接口电路 | 第42页 |
| ·数据存储电路 | 第42-43页 |
| ·模拟电路设计 | 第43-46页 |
| ·模拟输入输出的相关参数 | 第43-44页 |
| ·数控恒流/恒压源 | 第44-45页 |
| ·测试电路 | 第45-46页 |
| ·测试结果 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章 软件系统的开发 | 第48-63页 |
| ·软件开发环境 | 第48-49页 |
| ·单片机程序开发环境 | 第48页 |
| ·主机程序开发环境 | 第48-49页 |
| ·单片机程序设计 | 第49-52页 |
| ·电参数定标 | 第49页 |
| ·数据采样 | 第49-50页 |
| ·测控程序设计 | 第50-52页 |
| ·串口通讯设计 | 第52-55页 |
| ·串口工作模式设置 | 第52-54页 |
| ·串口通信协议设计 | 第54-55页 |
| ·主机程序设计 | 第55-62页 |
| ·软件界面设计 | 第55-56页 |
| ·主机程序流程 | 第56-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第七章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·总结 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第69页 |
