| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题的研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第10-11页 |
| 1.3 嵌入式图像检测系统的特点 | 第11-12页 |
| 1.4 本课题研究的主要内容 | 第12-13页 |
| 1.5 本文的章节安排 | 第13-14页 |
| 第二章 嵌入式电子元器件检测系统硬件平台的搭建 | 第14-20页 |
| 2.1 基于ARM的嵌入式系统概述 | 第14-15页 |
| 2.1.1 嵌入式系统概述 | 第14-15页 |
| 2.1.2 嵌入式ARM微处理器 | 第15页 |
| 2.2 检测系统的硬件平台设计 | 第15-19页 |
| 2.2.1 OK6410开发板简介 | 第15-16页 |
| 2.2.2 硬件电路设计 | 第16-19页 |
| 2.3 本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 电子元器件检测系统软件平台的搭建 | 第20-30页 |
| 3.1 嵌入式操作系统 | 第20-21页 |
| 3.2 嵌入式Linux开发环境的搭建 | 第21-25页 |
| 3.2.1 检测系统交叉编译环境的搭建 | 第21-23页 |
| 3.2.2 嵌入式Linux系统的移植 | 第23-25页 |
| 3.2.3 一键烧写Linux操作系统 | 第25页 |
| 3.3 电子元器件图像的采集与显示 | 第25-29页 |
| 3.3.1 电子元器件图像的采集 | 第25-28页 |
| 3.3.2 元件图像基于FrameBuffer的LCD显示 | 第28-29页 |
| 3.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 电子元器件图像检测算法的预处理设计 | 第30-49页 |
| 4.1 基于OTSU算法的图像分割 | 第30-33页 |
| 4.1.1 OTSU阈值分割原理 | 第30-31页 |
| 4.1.2 基于OTSU的图像二值化算法实现 | 第31-33页 |
| 4.2 图像阴影的去除 | 第33-41页 |
| 4.2.1 基于分段线性增强的阴影去除算法 | 第34-36页 |
| 4.2.2 基于模糊增强的阴影去除算法 | 第36-39页 |
| 4.2.3 该算法在ARM下的运行时间与MATLAB、VC平台比较 | 第39-41页 |
| 4.3 图像噪声的滤除 | 第41-45页 |
| 4.3.1 典型的噪声类型与去噪方法 | 第41-44页 |
| 4.3.2 电子元器件图像去噪效果 | 第44-45页 |
| 4.4 电子元器件图像的边缘检测 | 第45-48页 |
| 4.4.1 边缘检测原理 | 第45页 |
| 4.4.2 元件图像边缘检测算子 | 第45-47页 |
| 4.4.3 电子元器件边缘检测结果 | 第47-48页 |
| 4.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 嵌入式平台下电子元器件的检测与识别 | 第49-67页 |
| 5.1 电子元器件图像的旋转 | 第49-54页 |
| 5.1.1 电子元器件图像任意角度旋转 | 第49-51页 |
| 5.1.2 电子元器件旋转算法的实现 | 第51-54页 |
| 5.2 管脚弯曲的电子元器件的检测 | 第54-62页 |
| 5.2.1 嵌入式平台下元器件图像检测流程 | 第54-55页 |
| 5.2.2 电子元器件图像的预处理结果 | 第55-57页 |
| 5.2.3 电子元器件的最小外接矩形 | 第57-62页 |
| 5.3 管脚缺失的电子元器件的检测 | 第62-64页 |
| 5.4 晶体三级管缺陷的检测与识别 | 第64-66页 |
| 5.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结论 | 第67-69页 |
| 6.1 全文总结 | 第67-68页 |
| 6.2 问题与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |