| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 注释表 | 第11-12页 |
| 缩略词 | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-20页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第14-18页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第18页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 缺陷定位的相关技术 | 第20-31页 |
| 2.1 软件缺陷定位 | 第20-24页 |
| 2.1.1 软件缺陷 | 第20-21页 |
| 2.1.2 软件缺陷定位技术 | 第21-24页 |
| 2.2 遗传算法 | 第24-28页 |
| 2.2.1 遗传算法的基本框架 | 第24-27页 |
| 2.2.2 遗传算法的应用及优缺点 | 第27-28页 |
| 2.3 对数几率回归 | 第28-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于频谱信息并结合碰集和遗传算法的缺陷定位方法 | 第31-45页 |
| 3.1 多缺陷定位效率问题 | 第31-33页 |
| 3.2 GAHIT框架结构 | 第33-34页 |
| 3.3 定位基本块划分 | 第34-35页 |
| 3.4 搜索缺陷组合模块 | 第35-39页 |
| 3.4.1 碰集 | 第35-37页 |
| 3.4.2 染色体编码方式 | 第37页 |
| 3.4.3 适应度值函数 | 第37-39页 |
| 3.4.4 遗传操作算子 | 第39页 |
| 3.5 缺陷查找策略 | 第39-40页 |
| 3.6 实验 | 第40-43页 |
| 3.6.1 实验配置 | 第40-41页 |
| 3.6.2 实验结果与分析 | 第41-43页 |
| 3.7 小结 | 第43-45页 |
| 第四章 系统测试环境下软件缺陷定位技术研究 | 第45-57页 |
| 4.1 问题描述 | 第45页 |
| 4.2 SysFL框架结构 | 第45-46页 |
| 4.3 测试用例归类 | 第46-49页 |
| 4.3.1 子系统、模块和函数描述 | 第46-47页 |
| 4.3.2 测试用例归类规则 | 第47-49页 |
| 4.4 可疑度度量 | 第49-52页 |
| 4.4.1 失败用例关联度度量 | 第49-50页 |
| 4.4.2 软件测试用例约简 | 第50-51页 |
| 4.4.3 可疑值度量 | 第51-52页 |
| 4.5 实验 | 第52-56页 |
| 4.5.1 实验配置 | 第52-53页 |
| 4.5.2 实验结果与分析 | 第53-56页 |
| 4.6 小结 | 第56-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 论文工作总结 | 第57-58页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表(录用)论文 | 第66页 |