航天器电子系统辅助研发系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景和目的 | 第10-11页 |
| 1.2 航天器电子系统概述 | 第11-13页 |
| 1.2.1 航天器系统概述 | 第11-12页 |
| 1.2.2 航天器电子系统 | 第12-13页 |
| 1.3 航天器模拟器国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第14-15页 |
| 1.4 主要研究内容及章节安排 | 第15-17页 |
| 第2章 辅助研发系统方案设计 | 第17-28页 |
| 2.1 系统工作原理及功能要求 | 第17-19页 |
| 2.2 需求分析 | 第19-21页 |
| 2.2.1 系统整体需求分析 | 第19-20页 |
| 2.2.2 功能单元需求分析 | 第20-21页 |
| 2.3 系统总体架构设计 | 第21-23页 |
| 2.4 系统硬件实现方案 | 第23-26页 |
| 2.4.1 硬件方案概述 | 第23页 |
| 2.4.2 开关量检测模块方案设计 | 第23-24页 |
| 2.4.3 恒流源方案设计 | 第24-26页 |
| 2.5 系统软件实现方案 | 第26-27页 |
| 2.6 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 辅助研发系统硬件设计 | 第28-45页 |
| 3.1 主控模块设计 | 第28页 |
| 3.2 恒流源模块设计 | 第28-39页 |
| 3.2.1 恒流源模块原理概述 | 第28-30页 |
| 3.2.2 V/I转换电路 | 第30-31页 |
| 3.2.3 数字控制电路 | 第31-32页 |
| 3.2.4 调整管功率控制电路 | 第32-34页 |
| 3.2.5 通信电路 | 第34页 |
| 3.2.6 模糊控制器设计 | 第34-39页 |
| 3.3 ADC模块设计 | 第39-41页 |
| 3.3.1 ADC板卡选型 | 第39-40页 |
| 3.3.2 信号调理电路设计 | 第40-41页 |
| 3.4 开关量检测模块设计 | 第41-43页 |
| 3.4.1 开关量输入板卡选型 | 第41-42页 |
| 3.4.2 信号调理电路设计 | 第42-43页 |
| 3.5 开关量输出模块设计 | 第43-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 辅助研发系统软件设计 | 第45-69页 |
| 4.1 软件设计概述 | 第45-46页 |
| 4.2 系统软件可扩展和裁剪功能设计 | 第46-49页 |
| 4.2.1 软件模块化封装 | 第46-47页 |
| 4.2.2 子功能模块管理 | 第47-49页 |
| 4.3 子功能模块间通信和控制接口设计 | 第49-50页 |
| 4.4 各功能模块软件设计 | 第50-56页 |
| 4.4.1 恒流源模块软件设计 | 第51-53页 |
| 4.4.2 ADC模块软件设计 | 第53-54页 |
| 4.4.3 开关量检测模块软件设计 | 第54-55页 |
| 4.4.4 开关量输出模块软件设计 | 第55-56页 |
| 4.5 以太网通信模块设计 | 第56-61页 |
| 4.5.1 数据发送协议配置 | 第57-59页 |
| 4.5.2 通信协议解析模块设计 | 第59-61页 |
| 4.5.3 通信指令配置模块设计 | 第61页 |
| 4.5.4 周期性通信任务模块设计 | 第61页 |
| 4.6 系统工作流程配置模块设计 | 第61-68页 |
| 4.6.1 系统工作流程可配置的实现方法 | 第61-62页 |
| 4.6.2 动作与动作集设计 | 第62-63页 |
| 4.6.3 流程跳转器设计 | 第63-64页 |
| 4.6.4 人机交互方式及前后台数据传输 | 第64-67页 |
| 4.6.5 流程的执行 | 第67-68页 |
| 4.6.6 流程本地化存储 | 第68页 |
| 4.7 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 辅助研发系统测试 | 第69-81页 |
| 5.1 系统测试内容 | 第69-70页 |
| 5.2 功能模块测试步骤与结果分析 | 第70-76页 |
| 5.2.1 恒流源模块测试与结果分析 | 第70-72页 |
| 5.2.2 ADC模块测试与结果分析 | 第72-73页 |
| 5.2.3 开关量检测模块测试与结果分析 | 第73-74页 |
| 5.2.4 开关量输出模块测试与结果分析 | 第74-75页 |
| 5.2.5 以太网通信模块测试与结果分析 | 第75-76页 |
| 5.3 系统整体测试 | 第76-79页 |
| 5.3.1 测试背景 | 第76-77页 |
| 5.3.2 测试系统结构 | 第77-78页 |
| 5.3.3 测试过程及结果分析 | 第78-79页 |
| 5.4 测试中遇到的问题和解决方法 | 第79-80页 |
| 5.5 本章小结 | 第80-81页 |
| 结论 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
