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基于微桥结构的太赫兹探测器测试技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 课题研究的背景和研究的意义第10-12页
        1.1.1 太赫兹波第10页
        1.1.2 太赫兹频段辐射特性第10-11页
        1.1.3 太赫兹探测技术第11-12页
    1.2 太赫兹技术的国内外研究现状第12-13页
    1.3 本论文的主要工作第13-15页
第二章 测试系统的基本原理和方法第15-27页
    2.1 测试系统的基本功能第15-16页
    2.2 太赫兹探测器的工作机理第16-17页
    2.3 太赫兹辐射源工作原理第17-20页
    2.4 测试系统的理论依据第20-24页
        2.4.1 响应电压第20-22页
            2.4.1.1 像元响应电压第20-21页
            2.4.1.2 探测器的平均响应电压第21-22页
        2.4.2 响应率第22页
        2.4.3 响应的非均匀性第22页
        2.4.4 时域RMS噪声第22-23页
        2.4.5 空间噪声第23页
        2.4.6 固定图像噪声第23页
        2.4.7 噪声等效功率第23-24页
        2.4.8 盲元率、盲元分布和盲元簇第24页
    2.5 测试系统的的系统结构框架图第24-26页
    2.6 本章小结第26-27页
第三章 测试系统的硬件设计第27-35页
    3.1 时序驱动模块第27-30页
        3.1.1 时序控制模块第28-29页
        3.1.2 可调节直流偏置电压第29-30页
    3.2 数据采集模块第30-34页
        3.2.1 模数转换电路第31-32页
        3.2.2 LVDS差分接.电路第32-33页
        3.2.3 PCIE采集模块设计第33-34页
    3.3 本章小结第34-35页
第四章 测试系统软件模块设计第35-63页
    4.1 测试系统数据采集第36-43页
        4.1.1 PCI Express总线驱动程序设计第36-40页
        4.1.2 应用程序采集模块程序设计第40-43页
    4.2 软件测试模块的设计第43-49页
        4.2.1 探测器性能参数测试第43-46页
        4.2.2 盲元的测试模块的设计第46-49页
    4.3 太赫兹探测器图像显示模块设计第49-55页
        4.3.1 非均匀性校正第49-51页
        4.3.2 直方图均衡化处理第51-53页
        4.3.3 盲元的补偿第53-55页
    4.4 软件的自动化控制模块第55-62页
        4.4.1 自动化寻找偏置电压第56-58页
        4.4.2 软件的自动化测试操作第58-62页
    4.5 本章小结第62-63页
第五章 测试系统的评估第63-69页
    5.1 性能参数测试的评估第63-67页
    5.2 测试系统的成像评估第67-68页
    5.3 本章小结第68-69页
第六章 结论与展望第69-71页
    6.1 结论第69页
    6.2 展望第69-71页
致谢第71-72页
参考文献第72-75页
攻读硕士学位期间的研究成果第75-76页

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