基于近场辐射的介电薄膜热导率模型研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-21页 |
| ·引言 | 第10-18页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-17页 |
| ·薄膜热传导现有研究方法 | 第17-18页 |
| ·国内外研究现状 | 第18-19页 |
| ·课题研究的意义及主要内容 | 第19-21页 |
| 第2章 低维介电材料的传热机理 | 第21-36页 |
| ·体态热传导的声子运输 | 第21-26页 |
| ·晶格的振动 | 第21-23页 |
| ·热的传递-声子之间的碰撞 | 第23-25页 |
| ·缺陷和边界散射 | 第25-26页 |
| ·介电薄膜导热的声子运输 | 第26-27页 |
| ·近场辐射的声子运输 | 第27-35页 |
| ·固体材料热辐射性质 | 第28-29页 |
| ·近场辐射效应的研究 | 第29-30页 |
| ·近场辐射实验 | 第30-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 介电薄膜热传导的理论和试验研究 | 第36-55页 |
| ·介电薄膜的声子输运方程 | 第36-41页 |
| ·声子输运的一般形式 | 第36-38页 |
| ·声子辐射传热方程EPRT | 第38页 |
| ·薄膜的稳态导热模型 | 第38-40页 |
| ·声子辐射平衡 | 第40-41页 |
| ·薄膜导热系数的实验研究 | 第41-53页 |
| ·3ω方法基本原理 | 第41-48页 |
| ·3ω方法测量SiO_2 薄膜的导热系数 | 第48-52页 |
| ·其他方法测量SiO_2 薄膜热导率 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 第4章 薄膜热传导新模型的建立及分析 | 第55-74页 |
| ·薄膜热传导新模型的建立 | 第55-57页 |
| ·薄膜热导的理论试验模型 | 第55-56页 |
| ·理论试验的数学推导 | 第56-57页 |
| ·近场辐射试验及理论研究 | 第57-68页 |
| ·近场辐射的实验研究 | 第58-59页 |
| ·区域能态密度LDOS | 第59-65页 |
| ·SiO_2 的表面波能量计算 | 第65-68页 |
| ·利用模型计算SiO_2 薄膜导热系数 | 第68-70页 |
| ·近场辐射和薄膜热传导统一性研究 | 第70-72页 |
| ·极限情况统一性研究 | 第70-71页 |
| ·非极限情况统一性研究 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 结论与展望 | 第74-76页 |
| ·主要工作和结论 | 第74页 |
| ·创新性 | 第74-75页 |
| ·展望 | 第75-76页 |
| 主要符号（NOMENCLATURE） | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
| 硕士期间已发表论文目录 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85页 |
