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Eclipse插件技术在加速器控制系统中的应用

摘要第4-6页
abstract第6-7页
第一章 引言第10-18页
    1.1 ADS(AcceleratorDrivenSub-criticalSystem)简介[1,2]第10-11页
    1.2 分布式加速器控制系统第11-12页
    1.3 注入器Ⅱ控制系统结构第12-13页
    1.4 CSS软件技术与Eclipse插件技术在切束控制系统中的应用第13-17页
    1.5 论文主要内容第17-18页
第二章 插件总体结构第18-28页
    2.1 需求分析第18-20页
    2.2 软件设计结构第20-23页
        2.2.1 总体结构设计第20-21页
        2.2.2 数据库选定第21-22页
        2.2.3 开发模式选定第22-23页
    2.3 开发技术和工具第23-26页
        2.3.1 Eclipse插件开发技术第23-25页
        2.3.2 软件设计框架第25-26页
    2.4 本章小结第26-28页
第三章 应用软件开发设计第28-43页
    3.1 项目设计第28页
    3.2 数据库设计第28-31页
        3.2.1 需求分析第28页
        3.2.2 数据关系模型第28-31页
    3.3 软件开发框架设计第31-41页
        3.3.1 开发框架结构第31-32页
        3.3.2 ORM框架第32-35页
        3.3.3 EclipseRCP开发设计第35-38页
        3.3.4 Spring管理框架第38-41页
    3.4 本章小结第41-43页
第四章 功能模块设计第43-58页
    4.1 归档模块第43-47页
        4.1.1 归档模块结构第43-44页
        4.1.2 CA协议介绍第44-45页
        4.1.3 CA通讯模块结构第45-46页
        4.1.4 多进程与多线程第46-47页
    4.2 设备信息管理模块第47-53页
        4.2.1 设备信息管理模块结构第47-48页
        4.2.2 多对多关系映射处理第48-50页
        4.2.3 模块程序流程第50-53页
    4.3 RAM数据解析模块第53-57页
        4.3.1 数据解析模块结构第53-54页
        4.3.2 Databrowser介绍第54页
        4.3.3 JFreeChart介绍第54-55页
        4.3.4 触发器设计第55-56页
        4.3.5 测试结果第56-57页
    4.4 本章小结第57-58页
第五章 系统测试第58-67页
    5.1 设备信息管理测试第58-59页
    5.2 RAM数据获取测试第59-60页
    5.3 故障锁存测试第60-63页
    5.4 RAM数据解析与查看测试第63-65页
    5.5 故障信息统计测试第65-66页
    5.6 本章小结第66-67页
第六章 结论与展望第67-69页
    6.1 结论第67页
    6.2 展望第67-69页
参考文献第69-71页
致谢第71-72页
作者简介及在学期间发表的学术论文第72页

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