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原模图LDPC码的FPGA硬件测试平台研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
目录第8-12页
第一章 绪论第12-18页
    1.1 本课题的研究背景和意义第12-14页
    1.2 本课题的研究现状第14-15页
    1.3 论文的主要工作第15-17页
    1.4 本文的组织结构第17-18页
第二章 原模图LDPC码的编译码理论第18-29页
    2.1 LDPC码的定义和表示方法第18-20页
        2.1.1 LDPC码的矩阵表示法第19页
        2.1.2 LDPC码的Tanner图表示法第19-20页
        2.1.3 LDPC码的度分布表示法第20页
    2.2 原模图LDPC码的构造第20-23页
    2.3 原模图LDPC码的编码算法第23-25页
        2.3.1 传统编码方法第23-24页
        2.3.2 利用H矩阵的快速编码方法第24-25页
    2.4 原模图LDPC码的译码算法第25-29页
第三章 AWGN信道中原模图LDPC码的硬件测试平台实现第29-64页
    3.1 AWGN信道全硬件测试平台的基本框架第29-32页
        3.1.1 基本框架第29-30页
        3.1.2 测试平台的硬件模块构成第30-31页
        3.1.3 测试平台开发环境第31-32页
    3.2 原模图LDPC的准循环扩展方法第32-34页
    3.3 本文所用码型第34-36页
    3.4 高斯随机数发生器的硬件实现第36-44页
        3.4.1 MT-19937模块的实现第36-41页
        3.4.2 高斯随机BM模块的实现第41-44页
    3.5 原模图LDPC编码器的硬件实现第44-56页
        3.5.1 通用编码器第44-49页
        3.5.2 准循环编码器第49-53页
        3.5.3 改进型的准循环编码器第53-55页
        3.5.4 准循环编码器与通用编码器的比较第55-56页
    3.6 原模图LDPC译码器的硬件实现第56-63页
    3.7 本章小结第63-64页
第四章 磁记录信道中原模图LDPC码的硬件测试平台的实现第64-79页
    4.1 磁记录信道中硬件测试平台的基本框架第64-67页
        4.1.1 原模图LDPC在磁记录系统中的模型第64-65页
        4.1.2 硬件平台基本框架第65-67页
    4.2 EPR4信道的设计第67-70页
    4.3 BCJR检测器的实现第70-78页
        4.3.1 BCJR算法原理简介第70-73页
        4.3.2 BCJR检测器的硬件设计第73-78页
    4.4 本章小结第78-79页
第五章 硬件测试平台性能测试第79-87页
    5.1 测试结果第80-82页
    5.2 测试结果总结第82页
    5.3 资源消耗第82-84页
    5.4 测试速度第84-87页
第六章 总结与展望第87-89页
    6.1 全文总结第87-88页
    6.2 展望第88-89页
参考文献第89-93页
附录 攻读硕士学位期间从事的科研项目第93-94页
致谢第94页

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