基于图像的天线几何尺寸测量
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·引言 | 第7-8页 |
·图像测量技术的国内外现状 | 第8-9页 |
·选题背景及意义 | 第9-10页 |
·本文的工作 | 第10-13页 |
第二章 平板裂缝阵天线结构特征与大型图像识别技术 | 第13-21页 |
·引言 | 第13页 |
·平板裂缝天线的结构特征 | 第13-16页 |
·平板裂缝阵天线的结构特征 | 第13-15页 |
·平板裂缝阵天线结构特征对图像测量的影响 | 第15-16页 |
·大型图像的特征识别技术 | 第16-21页 |
·图像特征识别过程 | 第16-17页 |
·大型图像特性 | 第17-18页 |
·大型图像的特征识别 | 第18-21页 |
第三章 基于设计模型的裂缝图像测量 | 第21-39页 |
·引言 | 第21页 |
·平板裂缝天线图像的处理 | 第21-33页 |
·平板裂缝阵天线图像的预处理 | 第22-25页 |
·平板裂缝阵天线图像的二值化 | 第25-26页 |
·平板裂缝天线图像的边缘检测 | 第26-30页 |
·平板裂缝阵天线图像的亚像素检测 | 第30-33页 |
·平板裂缝阵天线图像的测量 | 第33-36页 |
·裂缝中心的识别 | 第33-34页 |
·裂缝长度的测量 | 第34-36页 |
·裂缝宽度的测量 | 第36页 |
·测量结果及误差分析 | 第36-39页 |
第四章 基于设计模型的波导内腔图像测量 | 第39-49页 |
·引言 | 第39-40页 |
·矩形波导内腔图像的处理与测量 | 第40-42页 |
·梯形波导内腔图像的处理与测量 | 第42-44页 |
·圆孔的处理与测量 | 第44-46页 |
·测量误差分析 | 第46-49页 |
第五章 图像测量原型软件 | 第49-57页 |
·软件功能简介 | 第49-50页 |
·软件操作 | 第50-57页 |
第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
致谢 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-64页 |