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宽频带高精度压电器件阻抗测试系统

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第11-16页
    1.1 研究背景及意义第11页
    1.2 国内外研究现状第11-13页
        1.2.1 理论研究现状第11-12页
        1.2.2 国内外产品现状第12-13页
    1.3 研究内容第13-14页
    1.4 本文章节安排第14-16页
第2章 压电器件测试理论基础第16-21页
    2.1 压电陶瓷等效电路建立第16-17页
    2.2 导纳圆应用机理第17-19页
    2.3 压电器件测试第19-20页
    2.4 本章小结第20-21页
第3章 硬件电路设计第21-42页
    3.1 系统总体设计第21-24页
    3.2 DDS 扫频信号电路设计第24-26页
        3.2.1 DDS 产生可变频正弦波原理第24页
        3.2.2 基于 AD9850 扫频信号电路设计第24-26页
    3.3 滤波和增益可控电路设计第26-34页
        3.3.1 滤波电路选型与设计第26-30页
        3.3.2 基于 AD8369 可控增益放大电路设计第30-32页
        3.3.3 换能器测试电路设计第32-33页
        3.3.4 采样电阻切换电路设计第33-34页
    3.4 采集电路设计第34-40页
        3.4.1 基于 AD637 低频处理电路设计第34-35页
        3.4.2 基于 AD8302 高频处理电路设计第35-39页
        3.4.3 基于 AD7862 模数转换电路设计第39-40页
    3.5 控制单元及其它模块电路设计第40-41页
        3.5.1 控制单元电路设计第40-41页
        3.5.2 其它模块电路设计第41页
    3.6 本章小结第41-42页
第4章 软件设计与算法实现第42-52页
    4.1 主程序设计第42-43页
    4.2 信号产生及采集选通程序设计第43-44页
    4.3 采样电阻切换程序设计第44-45页
    4.4 自适应扫频算法实现与结果分析第45-48页
        4.4.1 自适应扫频算法实现第45-46页
        4.4.2 结果分析第46-48页
    4.5 基于相关分析法的相位差检测第48-49页
    4.6 上位机与下位机通讯第49-51页
    4.7 本章小结第51-52页
第5章 实验结果与分析第52-62页
    5.1 信号生成和采集结果第52-53页
    5.2 不同频率测试实验第53-54页
    5.3 不同阻值测试实验第54-56页
    5.4 系统测试结果与分析第56-60页
    5.5 上位机结果第60-61页
    5.6 本章小结第61-62页
结论第62-64页
参考文献第64-68页
致谢第68页

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