| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 1 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11页 |
| 1.2 纳米材料与修饰电极 | 第11-15页 |
| 1.2.1 电化学修饰电极 | 第11-12页 |
| 1.2.2 纳米材料的定义 | 第12-13页 |
| 1.2.3 纳米材料的分类 | 第13页 |
| 1.2.4 石墨烯 | 第13-14页 |
| 1.2.5 纳米金 | 第14-15页 |
| 1.2.6 纳米线 | 第15页 |
| 1.3 壳聚糖 | 第15-16页 |
| 1.4 L-半胱氨酸 | 第16页 |
| 1.5 L-丝氨酸 | 第16-17页 |
| 1.6 选题背景和主要内容 | 第17-19页 |
| 2 布洛芬在L-半胱氨酸/纳米金/DNA/壳聚糖修饰电极上电化学行为的研究 | 第19-29页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 实验部分 | 第19-22页 |
| 2.2.1 仪器与试剂 | 第19-20页 |
| 2.2.2 修饰电极的制备过程 | 第20-22页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第22-26页 |
| 2.3.1 L-cys /Aucolloid /DNA/Au/CME的电化学表征 | 第22-23页 |
| 2.3.2 IB的循环伏安行为研究 | 第23-24页 |
| 2.3.3 电子数的测定 | 第24-25页 |
| 2.3.4 电极反应质子数的测定 | 第25-26页 |
| 2.4 IB测定条件的优化 | 第26-28页 |
| 2.4.1 测定介质的选择 | 第26页 |
| 2.4.2 pH的选择 | 第26页 |
| 2.4.3 线性范围、检出限 | 第26-27页 |
| 2.4.4 稳定性、重现性 | 第27页 |
| 2.4.5 干扰实验 | 第27-28页 |
| 2.4.6 回收率的测定 | 第28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 L-丝氨酸/壳聚糖/氧化石墨烯/纳米金修饰电极的制备及其对胞嘧啶的电化学测定 | 第29-41页 |
| 3.1 引言 | 第29-30页 |
| 3.2 实验部分 | 第30-33页 |
| 3.2.1 仪器与试剂 | 第30-31页 |
| 3.2.2 修饰电极的制备 | 第31-33页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第33-34页 |
| 3.3.1 L-Serine的电化学性质表征 | 第33页 |
| 3.3.2 修饰电极的电化学表征 | 第33-34页 |
| 3.4 胞嘧啶循环伏安行为的研究 | 第34-35页 |
| 3.5 实验条件的优化 | 第35-39页 |
| 3.5.1 缓冲溶液的选择 | 第35页 |
| 3.5.2 pH的选择 | 第35-36页 |
| 3.5.3 反应电子数的测定 | 第36-37页 |
| 3.5.4 扫速的影响 | 第37页 |
| 3.5.5 线性范围、检出限 | 第37-38页 |
| 3.5.6 共存离子的干扰 | 第38页 |
| 3.5.7 稳定性、重现性 | 第38-39页 |
| 3.5.8 回收率的测定 | 第39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-41页 |
| 4 氢氧化铜纳米线修饰电极的制备及电化学测定长春地辛 | 第41-51页 |
| 4.1 引言 | 第41-42页 |
| 4.2 实验部分 | 第42-45页 |
| 4.2.1 仪器与试剂 | 第42页 |
| 4.2.2 氢氧化铜纳米线的制备 | 第42-43页 |
| 4.2.3 Cu(OH)_2-NW-AuE的制备 | 第43页 |
| 4.2.4 Cu(OH)_2-NW-AuE的表征 | 第43-44页 |
| 4.2.5 VDS循环伏安行为的研究 | 第44-45页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第45-47页 |
| 4.3.1 缓冲溶液的选择 | 第45页 |
| 4.3.2 扫速的影响 | 第45-46页 |
| 4.3.3 浓度的影响 | 第46-47页 |
| 4.4 Cu(OH)_2-NW-AuE的响应性能 | 第47-49页 |
| 4.4.1 线性范围和检出限 | 第47-48页 |
| 4.4.2 Cu(OH)_2-NW-AuE电极稳定性与重现性 | 第48-49页 |
| 4.4.3 干扰实验及加标回收率 | 第49页 |
| 4.5 本章小结 | 第49-51页 |
| 结论 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-63页 |
| 附录 | 第63页 |
