首页--工业技术论文--一般工业技术论文--工程材料学论文--特种结构材料论文

纳米结构硅/锗基电极材料的合成及其电化学性能

中文摘要第3-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第9-26页
    1.1 引言第9-10页
    1.2 锂离子电池简介第10-12页
        1.2.1 锂离子电池的结构及工作原理第10-11页
        1.2.2 锂离子电池特点第11-12页
    1.3 锂离子电池正极材料的研究进展第12-15页
        1.3.1 正极材料的选择依据第12页
        1.3.2 正极材料的研究进展第12-15页
    1.4 锂离子电池负极材料的研究进展第15-24页
        1.4.1 嵌入型负极材料第15-17页
        1.4.2 合金化型负极材料第17-22页
        1.4.3 转化型负极材料第22-24页
    1.5 本文的选题依据和研究内容第24-26页
第二章 实验第26-30页
    2.1 实验仪器和实验试剂第26-28页
        2.1.1 实验仪器第26-27页
        2.1.2 实验试剂第27-28页
    2.2 样品的合成(见相应的章节)第28页
    2.3 样品的表征第28-29页
        2.3.1 X射线粉末衍射仪(XRD)第28页
        2.3.2 扫描电子显微镜(SEM)第28页
        2.3.3 透射电子显微镜(TEM)第28页
        2.3.4 热重分析(TGA)第28页
        2.3.5 拉曼光谱分析(Raman)第28-29页
        2.3.6 X射线光电子能谱(XPS)第29页
        2.3.7 N_2吸附-脱附曲线分析(BET)第29页
    2.4 样品的电化学性能测试第29-30页
        2.4.1 电池的组装第29页
        2.4.2 电化学性能测试第29-30页
第三章 Si/N-doped C复合物的制备及其电化学性能研究第30-42页
    3.1 引言第30页
    3.2 实验部分第30-31页
        3.2.1 Si/C和Si/N-C复合物的合成第31页
        3.2.2 样品的表征与电化学性能测试第31页
    3.3 结果与讨论第31-40页
        3.3.1 X射线粉末衍射分析(RD)第31-32页
        3.3.2 电镜分析(SEM/TEM)第32-33页
        3.3.3 拉曼分析第33-34页
        3.3.4 X射线光电子能谱分析(XPS)第34-35页
        3.3.5 热重分析(TGA)第35页
        3.3.6 N_2吸附-脱附曲线分析(BET)第35-36页
        3.3.7 电化学性能分析第36-40页
    3.4 本章小结第40-42页
第四章 Si/SiO_2/RGO复合物的制备及其电化学性能研究第42-52页
    4.1 引言第42-43页
    4.2 实验部分第43页
        4.2.1 Si/SiO_2复合物及Si/SiO_2/RGO复合物的合成第43页
        4.2.2 样品的表征与电化学性能测试第43页
    4.3 结果与讨论第43-51页
        4.3.1 镁粉量对Si/SiO_2复合物的影响第44页
        4.3.2 X射线粉末衍射分析(XRD)第44-45页
        4.3.3 电镜分析(SEM)第45-46页
        4.3.4 拉曼分析第46-47页
        4.3.5 电化学性能分析第47-51页
    4.4 本章小结第51-52页
第五章 GeO_2/RGO复合物的制备及其电化学性能研究第52-63页
    5.1 引言第52-53页
    5.2 实验部分第53页
        5.2.1 GeO_2/RGO复合物电极的制备第53页
        5.2.2 样品的表征与电化学性能测试第53页
    5.3 结果与讨论第53-60页
        5.3.1 电镜分析(SEM/TEM)第53-54页
        5.3.2 拉曼分析第54-55页
        5.3.3 X射线光电子能谱分析(XPS)第55-56页
        5.3.4 电化学性能分析第56-60页
    5.4 本章小结第60-62页
    5.5 附录第62-63页
结论第63-65页
参考文献第65-72页
致谢第72-73页
个人简历第73页

论文共73页,点击 下载论文
上一篇:玉米赤霉烯酮及其代谢物的毛细管电色谱分析技术研究
下一篇:De序列相位编码结构光深度获取方法研究