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基于嵌入式平台的数据测试设备的设计与实现

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第一章 绪论第9-12页
    1.1 论文背景第9-10页
        1.1.1 嵌入式系统的发展现状第9页
        1.1.2 数据处理设备第9页
        1.1.3 测试设备第9-10页
    1.2 论文内容第10-11页
    1.3 论文结构第11-12页
第二章 相关技术第12-20页
    2.1 嵌入式系统开发环境第12-14页
        2.1.1 交叉编译环境第12页
        2.1.2 嵌入式Linux第12-13页
        2.1.3 Make工具第13-14页
    2.2 Linux设备驱动第14-15页
        2.2.1 Linux设备驱动概述第14-15页
        2.2.2 调试技术第15页
    2.3 Socket套接字第15-17页
    2.4 并发实现与网络模型第17-20页
        2.4.1 并发实现第17页
        2.4.2 I/O类型第17-18页
        2.4.3 事件驱动I/O第18-20页
第三章 数据测试设备的设计第20-33页
    3.1 系统需求与硬件环境第20-23页
        3.1.1 系统需求第20-21页
        3.1.2 硬件环境第21-23页
    3.2 系统总体结构设计第23-25页
    3.3 设备驱动程序设计第25-26页
    3.4 测试处理程序设计第26-33页
        3.4.1 功能设计第27-30页
        3.4.2 模块设计第30-33页
第四章 数据测试设备的实现第33-50页
    4.1 设备驱动程序的实现第33-39页
        4.1.1 初始化模块第34页
        4.1.2 通用模块第34页
        4.1.3 LED模块第34-35页
        4.1.4 SCC模块第35-38页
        4.1.5 I~2C模块第38-39页
    4.2 测试处理程序的实现第39-50页
        4.2.1 测试控制模块第39-42页
        4.2.2 网络传输模块第42-45页
        4.2.3 硬件控制模块第45-48页
        4.2.4 数据处理模块第48页
        4.2.5 系统安全模块第48-50页
第五章 数据测试设备的测试第50-53页
    5.1 测试环境第50页
    5.2 测试方法第50-51页
    5.3 测试结果第51-53页
        5.3.1 功能测试第51-52页
        5.3.2 性能测试第52-53页
第六章 总结与展望第53-55页
    6.1 工作总结第53页
    6.2 工作展望第53-55页
参考文献第55-57页
致谢第57页

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