日盲紫外ICCD组件技术研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 日盲紫外探测技术的原理 | 第9-10页 |
1.2 日盲紫外探测技术的应用 | 第10-14页 |
1.2.1 电晕检测 | 第10-12页 |
1.2.2 导弹告警 | 第12页 |
1.2.3 紫外助降 | 第12-13页 |
1.2.4 紫外搜救 | 第13-14页 |
1.3 日盲紫外ICCD组件的国内外研究现状 | 第14-16页 |
1.4 论文研究内容及意义 | 第16页 |
1.5 论文组织结构 | 第16-17页 |
第二章 日盲紫外ICCD组件的组成 | 第17-35页 |
2.1 日盲紫外像增强管 | 第18-25页 |
2.1.1 第一代微光像增强器 | 第18-19页 |
2.1.2 第二代微光像增强器 | 第19页 |
2.1.3 第三代微光像增强器 | 第19-20页 |
2.1.4 日盲紫外像增强管 | 第20-25页 |
2.2 像管环形电源 | 第25-28页 |
2.2.1 像管电源的工作原理 | 第25-26页 |
2.2.2 升压与倍压 | 第26-27页 |
2.2.3 稳压电路 | 第27页 |
2.2.4 电源的性能指标 | 第27-28页 |
2.3 光纤面板和光锥 | 第28-29页 |
2.4 CCD图像传感器 | 第29-32页 |
2.4.1 CCD图像传感器的发展 | 第29-30页 |
2.4.2 CCD传感器的工作原理 | 第30-32页 |
2.5 日盲滤光片 | 第32-34页 |
2.5.1 干涉型滤光片 | 第32-33页 |
2.5.2 吸收型滤光片 | 第33-34页 |
2.5.3 混合型滤光片 | 第34页 |
2.6 本章小结 | 第34-35页 |
第三章 日盲紫外ICCD组件的制作技术 | 第35-41页 |
3.1 光纤耦合技术 | 第35-38页 |
3.1.1 去除窗口玻璃 | 第35-36页 |
3.1.2 光锥的准备 | 第36页 |
3.1.3 光锥耦合 | 第36-37页 |
3.1.4 耦合装置与压力检测 | 第37-38页 |
3.1.5 图像实时观测 | 第38页 |
3.2 真空灌封技术 | 第38-39页 |
3.3 本章小结 | 第39-41页 |
第四章 日盲紫外ICCD组件的设计与制作 | 第41-45页 |
4.1 组件的设计 | 第41-42页 |
4.2 组件的制作 | 第42-43页 |
4.3 本章小结 | 第43-45页 |
第五章 日盲紫外ICCD组件的测试 | 第45-47页 |
5.1 计数率测试装置 | 第45页 |
5.2 组件的性能测试 | 第45-46页 |
5.2.1 暗计数率测试 | 第45页 |
5.2.2 探测量子效率测试 | 第45-46页 |
5.2.3 分辨率测试 | 第46页 |
5.2.4 信噪比测试 | 第46页 |
5.2.5 响应非均匀性测试 | 第46页 |
5.3 本章小结 | 第46-47页 |
第六章 总结与展望 | 第47-49页 |
6.1 总结 | 第47页 |
6.2 展望 | 第47-49页 |
参考文献 | 第49-50页 |