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日盲紫外ICCD组件技术研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 日盲紫外探测技术的原理第9-10页
    1.2 日盲紫外探测技术的应用第10-14页
        1.2.1 电晕检测第10-12页
        1.2.2 导弹告警第12页
        1.2.3 紫外助降第12-13页
        1.2.4 紫外搜救第13-14页
    1.3 日盲紫外ICCD组件的国内外研究现状第14-16页
    1.4 论文研究内容及意义第16页
    1.5 论文组织结构第16-17页
第二章 日盲紫外ICCD组件的组成第17-35页
    2.1 日盲紫外像增强管第18-25页
        2.1.1 第一代微光像增强器第18-19页
        2.1.2 第二代微光像增强器第19页
        2.1.3 第三代微光像增强器第19-20页
        2.1.4 日盲紫外像增强管第20-25页
    2.2 像管环形电源第25-28页
        2.2.1 像管电源的工作原理第25-26页
        2.2.2 升压与倍压第26-27页
        2.2.3 稳压电路第27页
        2.2.4 电源的性能指标第27-28页
    2.3 光纤面板和光锥第28-29页
    2.4 CCD图像传感器第29-32页
        2.4.1 CCD图像传感器的发展第29-30页
        2.4.2 CCD传感器的工作原理第30-32页
    2.5 日盲滤光片第32-34页
        2.5.1 干涉型滤光片第32-33页
        2.5.2 吸收型滤光片第33-34页
        2.5.3 混合型滤光片第34页
    2.6 本章小结第34-35页
第三章 日盲紫外ICCD组件的制作技术第35-41页
    3.1 光纤耦合技术第35-38页
        3.1.1 去除窗口玻璃第35-36页
        3.1.2 光锥的准备第36页
        3.1.3 光锥耦合第36-37页
        3.1.4 耦合装置与压力检测第37-38页
        3.1.5 图像实时观测第38页
    3.2 真空灌封技术第38-39页
    3.3 本章小结第39-41页
第四章 日盲紫外ICCD组件的设计与制作第41-45页
    4.1 组件的设计第41-42页
    4.2 组件的制作第42-43页
    4.3 本章小结第43-45页
第五章 日盲紫外ICCD组件的测试第45-47页
    5.1 计数率测试装置第45页
    5.2 组件的性能测试第45-46页
        5.2.1 暗计数率测试第45页
        5.2.2 探测量子效率测试第45-46页
        5.2.3 分辨率测试第46页
        5.2.4 信噪比测试第46页
        5.2.5 响应非均匀性测试第46页
    5.3 本章小结第46-47页
第六章 总结与展望第47-49页
    6.1 总结第47页
    6.2 展望第47-49页
参考文献第49-50页

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