| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 缩略词表 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 并发程序动态切片技术研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 故障定位技术研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第15-16页 |
| 1.3.1 研究针对并发Java程序的动态切片技术 | 第15页 |
| 1.3.2 研究基于并发Java程序切片的软件故障定位技术 | 第15页 |
| 1.3.3 并发Java程序故障定位器设计与实现 | 第15页 |
| 1.3.4 实验与分析 | 第15-16页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第16-17页 |
| 第二章 针对并发Java程序的动态切片技术 | 第17-26页 |
| 2.1 MDG的构建 | 第17-21页 |
| 2.2 MMDG的构建 | 第21-23页 |
| 2.2.1 插桩方法 | 第21-22页 |
| 2.2.2 MMDG的构建算法 | 第22-23页 |
| 2.3 并发动态切片算法 | 第23-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于并发Java程序切片的软件故障定位技术 | 第26-35页 |
| 3.1 切片谱的构建 | 第26-31页 |
| 3.1.1 基本概念 | 第26-27页 |
| 3.1.2 可疑语句和可疑语句的执行次数计算方法 | 第27-28页 |
| 3.1.3 可疑度计算方法 | 第28-29页 |
| 3.1.4 切片谱构建实例 | 第29-31页 |
| 3.2 变量感染分析 | 第31-34页 |
| 3.2.1 基本概念 | 第31-32页 |
| 3.2.2 变量感染可疑度计算方法 | 第32-33页 |
| 3.2.3 变量感染分析实例 | 第33-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 并发Java程序故障定位器设计与实现 | 第35-48页 |
| 4.1 开发环境 | 第35-37页 |
| 4.1.1 Neo4j | 第35页 |
| 4.1.2 AST | 第35-36页 |
| 4.1.3 Eclipse AST | 第36-37页 |
| 4.2 设计思想 | 第37页 |
| 4.3 总体结构 | 第37页 |
| 4.4 功能模块 | 第37-40页 |
| 4.4.1 针对并发Java程序的动态切片生成模块 | 第37-39页 |
| 4.4.2 基于并发Java程序切片的软件故障定位模块 | 第39-40页 |
| 4.5 主要数据结构 | 第40-45页 |
| 4.5.1 点的数据结构 | 第40-44页 |
| 4.5.2 边的数据结构 | 第44-45页 |
| 4.6 界面设计 | 第45-46页 |
| 4.6.1 信息输入界面 | 第46页 |
| 4.6.2 结果检索界面 | 第46页 |
| 4.6.3 结果显示界面 | 第46页 |
| 4.7 本章小结 | 第46-48页 |
| 第五章 实验与分析 | 第48-55页 |
| 5.1 实验对象 | 第48-49页 |
| 5.2 度量方法 | 第49页 |
| 5.3 实验过程 | 第49-50页 |
| 5.3.1 IBFL技术与相关的故障定位技术的定位效率比较 | 第49-50页 |
| 5.3.2 IBFL技术的稳定性验证 | 第50页 |
| 5.4 实验结果与分析 | 第50-54页 |
| 5.4.1 IBFL技术与相关的故障定位技术的定位效率比较 | 第50-54页 |
| 5.4.2 IBFL技术的稳定性验证 | 第54页 |
| 5.5 讨论 | 第54页 |
| 5.6 本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 总结与展望 | 第55-56页 |
| 6.1 主要工作总结 | 第55页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 作者简介 | 第59页 |
