| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-22页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 纳米银简介 | 第13-16页 |
| 1.2.1 纳米银的制备方法 | 第13-15页 |
| 1.2.2 纳米银的应用 | 第15-16页 |
| 1.3 聚酰亚胺简介 | 第16-19页 |
| 1.3.1 聚酰亚胺的合成方法 | 第16-17页 |
| 1.3.2 聚酰亚胺的性能 | 第17-18页 |
| 1.3.3 聚酰亚胺的应用 | 第18-19页 |
| 1.4 金属/聚酰亚胺复合薄膜 | 第19-21页 |
| 1.4.1 金属/聚酰亚胺复合薄膜的制备方法 | 第19-20页 |
| 1.4.2 金属/聚酰亚胺复合薄膜的性能 | 第20-21页 |
| 1.5 课题来源及研究内容 | 第21-22页 |
| 1.5.1 课题来源 | 第21页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第21-22页 |
| 第2章 实验部分 | 第22-28页 |
| 2.1 实验原料及设备 | 第22-23页 |
| 2.1.1 试验原料 | 第22页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第22-23页 |
| 2.2 纳米 Ag 的制备 | 第23-24页 |
| 2.2.1 一维棒状纳米 Ag 的制备 | 第23页 |
| 2.2.2 三维立方体状纳米 Ag 的制备 | 第23-24页 |
| 2.3 纳米 Ag/PI 复合薄膜的制备 | 第24-25页 |
| 2.3.1 纳米 Ag/PAA 复合胶液的制备 | 第24页 |
| 2.3.2 纳米 Ag/PI 复合薄膜的制备 | 第24-25页 |
| 2.4 性能表征和测试方法 | 第25-27页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜（SEM）测试 | 第25页 |
| 2.4.2 透射电子显微镜（TEM）测试 | 第25-26页 |
| 2.4.3 X 射线衍射（XRD）测试 | 第26页 |
| 2.4.4 力学性能测试 | 第26页 |
| 2.4.5 热失重（TGA）性能测试 | 第26页 |
| 2.4.6 电学性能测试 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 不同形貌纳米 Ag 的表征与分析 | 第28-35页 |
| 3.1 一维棒状纳米 Ag 的表征与分析 | 第28-31页 |
| 3.1.1 扫描电子显微镜分析 | 第28-29页 |
| 3.1.2 X 射线衍射及透射电子显微镜分析 | 第29-31页 |
| 3.2 三维立方体状纳米 Ag 的表征与分析 | 第31-34页 |
| 3.2.1 扫描电子显微镜分析 | 第31-32页 |
| 3.2.2 X 射线衍射及透射电子显微镜分析 | 第32-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 一维棒状纳米 Ag/PI 复合薄膜的结构表征与性能分析 | 第35-43页 |
| 4.1 扫描电子显微镜分析 | 第35-36页 |
| 4.2 X 射线衍射分析 | 第36-37页 |
| 4.3 力学性能分析 | 第37-38页 |
| 4.4 热性能分析 | 第38-39页 |
| 4.5 电学性能分析 | 第39-42页 |
| 4.5.1 电击穿场强及体积电阻率分析 | 第39-40页 |
| 4.5.2 电导率分析 | 第40-41页 |
| 4.5.3 介电性能分析 | 第41-42页 |
| 4.6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 三维立方体状纳米 Ag/PI 复合薄膜的结构表征与性能分析 | 第43-51页 |
| 5.1 扫描电子显微镜分析 | 第43-44页 |
| 5.2 X 射线衍射分析 | 第44-45页 |
| 5.3 力学性能分析 | 第45-46页 |
| 5.4 热性能分析 | 第46-47页 |
| 5.5 电学性能分析 | 第47-50页 |
| 5.5.1 电击穿场强及体积电阻率分析 | 第47-48页 |
| 5.5.2 电导率分析 | 第48-49页 |
| 5.5.3 介电性能分析 | 第49-50页 |
| 5.6 本章小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |