半导体激光器线宽压窄研究
摘要 | 第9-10页 |
ABSTRACT | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第12-18页 |
1.1 窄线宽半导体激光器的研究背景和意义 | 第12-13页 |
1.2 半导体激光器压窄线宽和稳频方法 | 第13-16页 |
1.2.1 半导体激光器稳频技术 | 第13-15页 |
1.2.2 半导体激光器线宽压窄技术 | 第15-16页 |
1.3 窄线宽半导体激光器的研究进展 | 第16-17页 |
1.4 论文概况 | 第17-18页 |
第二章 半导体激光器线宽压窄理论分析 | 第18-31页 |
2.1 光学谐振腔基础 | 第18-20页 |
2.1.1 光学谐振腔特性 | 第18-19页 |
2.1.2 激光与谐振腔的模式匹配 | 第19-20页 |
2.2 光学谐振腔光反馈压窄线宽和频率锁定理论 | 第20-25页 |
2.2.1 光反馈效应对激光频率的影响 | 第20-23页 |
2.2.2 光反馈效应对激光线宽的影响 | 第23-25页 |
2.3 反馈光相位对光反馈效应的影响 | 第25-28页 |
2.3.1 光反馈对激光模式增益系数的影响 | 第25-26页 |
2.3.2 光反馈对激光模式振荡的影响 | 第26-28页 |
2.4 线宽测量原理 | 第28-30页 |
2.5 本章小结 | 第30-31页 |
第三章 窄线宽半导体激光器总体方案设计和器件性能 | 第31-42页 |
3.1 光学谐振腔 | 第32页 |
3.2 半导体激光器及其驱动电路 | 第32-35页 |
3.2.1 激光二极管的结构及性质 | 第32-34页 |
3.2.2 半导体激光器驱动电路 | 第34-35页 |
3.3 相位控制电路 | 第35-36页 |
3.4 F-P腔干涉仪 | 第36页 |
3.5 系统主要元器件的性能测试 | 第36-41页 |
3.5.1 光学谐振腔特性 | 第36-39页 |
3.5.2 半导体激光器驱动电路特性 | 第39-40页 |
3.5.3 F-P腔干涉仪特性 | 第40-41页 |
3.6 本章小结 | 第41-42页 |
第四章 窄线宽稳频半导体激光器的实验及结果分析 | 第42-53页 |
4.1 初步实验及实验结果分析 | 第42-47页 |
4.1.1 频率锁定 | 第42-44页 |
4.1.2 模式抑制 | 第44-45页 |
4.1.3 线宽压窄 | 第45-47页 |
4.2 更高精细度谐振腔光反馈的实验研究 | 第47-51页 |
4.2.1 相位锁定 | 第47-49页 |
4.2.2 线宽测量 | 第49-51页 |
4.3 幅度噪声抑制 | 第51-52页 |
4.4 腔的精细度对线宽压窄效果的影响 | 第52页 |
4.5 本章小结 | 第52-53页 |
第五章 总结与展望 | 第53-54页 |
致谢 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-59页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第59页 |