| Abstract | 第4-5页 |
| 摘要 | 第6-10页 |
| 1 Introduction | 第10-18页 |
| 1.1 Title | 第11页 |
| 1.2 Background of Research | 第11-15页 |
| 1.2.1 Atlas DCA-Semiconductor Analyzer-Model DCA55 | 第11-12页 |
| 1.2.2 DIY Meter Tester Kit | 第12-13页 |
| 1.2.3 IGBT and MOSFET Tester | 第13-14页 |
| 1.2.4 Diode/Transistor Tester | 第14-15页 |
| 1.3 Motivation | 第15页 |
| 1.4 Technical Specifications | 第15-16页 |
| 1.5 Thesis Structure | 第16-17页 |
| 1.6 Summary | 第17-18页 |
| 2 Semiconductor Technologies | 第18-27页 |
| 2.1 The era of SiC Material | 第20-26页 |
| 2.2 Summary | 第26-27页 |
| 3 TI MSP430 RISC MCU | 第27-42页 |
| 3.1 MSP430F16x Series | 第27-30页 |
| 3.2 MSP430Fx261x Series | 第30-34页 |
| 3.3 MSP430C337 Series | 第34-37页 |
| 3.4 MSP430x G461x Series | 第37-41页 |
| 3.5 Summary | 第41-42页 |
| 4 Explanation of the measurement method: | 第42-48页 |
| 4.1 Measurement of Semiconductor | 第43-47页 |
| 4.1.1 Measurement of PNP Transistor or P-channel MOSFET | 第44-46页 |
| 4.1.2 Measurement of NPN transistor or N-channel MOSFET | 第46-47页 |
| 4.2 Summary | 第47-48页 |
| 5 Hardware Design and Software Development | 第48-57页 |
| 5.1 PCB Design | 第48页 |
| 5.2 Design Schematics | 第48-52页 |
| 5.3 Software Design and Board Testing | 第52-53页 |
| 5.3.1 Development Environment | 第52-53页 |
| 5.4 Programming and Debugging | 第53-54页 |
| 5.4.1 JTAG | 第53-54页 |
| 5.5 Functionality Test | 第54-56页 |
| 5.5.1 I/O functionality Test | 第55页 |
| 5.5.2 Oscillator Test | 第55页 |
| 5.5.3 Peripheral Test | 第55-56页 |
| 5.6 Summary | 第56-57页 |
| 6 Conclusion and Future Work | 第57-59页 |
| Acknowledgement | 第59-60页 |
| References | 第60-63页 |
| Publications | 第63页 |
