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大维Spike模型下的极限谱性质

致谢第5-7页
序言第7-13页
摘要第13-16页
Abstract第16-19页
文中部分缩写及符号说明第20-24页
第一章 预备知识第24-34页
    1.1 基本概念第24-26页
        1.1.1 ESD和LSD第24页
        1.1.2 Stieltjes变换第24-26页
        1.1.3 M-P分布第26页
    1.2 样本协方差阵的极限谱分布第26-28页
        1.2.1 独立情形第26-27页
        1.2.2 一般的M-P分布第27-28页
    1.3 线性谱统计量的中心极限定理第28-30页
    1.4 Spike模型下的极值特征根和特征向量第30-34页
第二章 大维框架下的球形检验第34-61页
    2.1 大维框架下的球型检验统计量第36-41页
        2.1.1 CLRT第37-38页
        2.1.2 CJ第38-41页
    2.2 模拟第41-47页
    2.3 推广第47-48页
    2.4 证明第48-56页
        2.4.1 引理2.1.2的证明第48-55页
        2.4.2 引理2.1.4的证明第55-56页
    2.5 总结第56-57页
    附录A第57-61页
第三章 Spike模型下线性谱统计量的中心化参数第61-78页
    3.1 介绍第61-62页
    3.2 Spike模型下线性谱统计量的中心化参数第62-71页
    3.3 在大维球形检验中的应用第71-73页
    附录B第73-78页
        3.3.1 (3.3.19)的证明第73-75页
        3.3.2 (3.3.20)的证明第75-76页
        3.3.3 (3.3.22)的证明第76-78页
第四章 随机半双线性型的联合中心极限定理第78-109页
    4.1 介绍第78-79页
    4.2 随机半双线性型的联合中心极限定理第79-88页
    4.3 在大维spike模型下的两个应用第88-99页
        4.3.1 预备知识第88-91页
        4.3.2 样本极值特征根的联合分布第91-97页
        4.3.3 样本极值特征根和特征向量的联合分布第97-99页
    4.4 定理4.3.2和4.3.6的证明第99-104页
        4.4.1 定理4.3.2的证明第99-100页
        4.4.2 定理4.3.6的证明第100-104页
    附录C第104-109页
第五章 结束语第109-111页
参考文献第111-118页
攻读博士期间的论文完成情况第118-119页
作者简历第119页

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