| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-14页 |
| 1.2 本论文的主要内容与创新点 | 第14-15页 |
| 1.3. 本论文的组织架构 | 第15-17页 |
| 第二章 时间交织ADC的基本原理与主要误差分析 | 第17-32页 |
| 2.1 时间交织ADC的基本原理 | 第17-19页 |
| 2.2 时间交织ADC的误差分析 | 第19-31页 |
| 2.2.1 通道间的增益误差 | 第23-25页 |
| 2.2.2 通道之间的失调失配 | 第25-28页 |
| 2.2.3 通道间的采样时间误差 | 第28-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 已有的时间交织ADC误差校准方法 | 第32-45页 |
| 3.1 前台及后台校准技术 | 第32-39页 |
| 3.1.1 前台校准技术介绍 | 第33-34页 |
| 3.1.2 后台校准技术介绍 | 第34-39页 |
| 3.2 采样时间误差的提取算法 | 第39-42页 |
| 3.2.1 Jamal校准算法 | 第39-41页 |
| 3.2.2 基于数据相关性统计的校准方法 | 第41-42页 |
| 3.3 采样时间误差的补偿方法 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 数字后台采样时间误差校准电路设计与优化 | 第45-78页 |
| 4.1 采样时间误差校准算法概述 | 第46-48页 |
| 4.2 采样时间误差的提取 | 第48-58页 |
| 4.2.1 采样时间误差提取算法的提出 | 第48-52页 |
| 4.2.2 校准环路的稳定性分析 | 第52-53页 |
| 4.2.3 步长系数μ的优化 | 第53-54页 |
| 4.2.4 在欠采样输入下的推广 | 第54-58页 |
| 4.3 压控采样开关 | 第58-64页 |
| 4.3.1 压控采样开关的原理 | 第58-61页 |
| 4.3.2 压控采样开关的线性度分析 | 第61-64页 |
| 4.4 用于压控采样开关的内嵌数模转换器(DAC)设计 | 第64-69页 |
| 4.4.1 内嵌DAC以产生可控延时的压控采样开关 | 第65-67页 |
| 4.4.2 内嵌新型桥接电容结构DAC的压控采样开关线性度 | 第67-69页 |
| 4.5 特定输入频率下的缺陷问题 | 第69-72页 |
| 4.5.1 产生问题的原因简析 | 第69-72页 |
| 4.6 求平均器的优化 | 第72-76页 |
| 4.7 本章小结 | 第76-78页 |
| 第五章 数字后台校准算法的测试与分析 | 第78-88页 |
| 5.1 校准系统测试环境的搭建 | 第78-82页 |
| 5.1.1 双通道时间交织ADC芯片简介 | 第79-82页 |
| 5.1.2 数字后台校准算法电路 | 第82页 |
| 5.2 测试结果简析 | 第82-87页 |
| 5.3 本章小结 | 第87-88页 |
| 第六章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 6.1 本论文总结 | 第88-89页 |
| 6.2 时间交织的未来展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-93页 |
| 研究生阶段成果 | 第93-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
