| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 热电变换器概述 | 第14-17页 |
| 1.2 交直流转换误差的定义及其来源 | 第17-19页 |
| 1.2.1 交直流转换误差的定义 | 第17-18页 |
| 1.2.2 交直流转换误差的来源 | 第18-19页 |
| 1.3 研究热电变换器测试系统的意义 | 第19-20页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第20-22页 |
| 2 薄膜热电变换器热电转换误差测试系统 | 第22-32页 |
| 2.1 薄膜热电变换器热电转换误差测试系统的方案选择 | 第22-30页 |
| 2.1.1 标准源法的应用实例 | 第22-23页 |
| 2.1.2 FRDC方案的发展进程 | 第23-30页 |
| 2.2 薄膜热电变换器热电转换误差测试系统总体方案设计 | 第30-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 3 基于TEC的恒温平台设计 | 第32-38页 |
| 3.1 恒温控制原理 | 第32-34页 |
| 3.2 TEC驱动电路的设计 | 第34-36页 |
| 3.3 恒温能力测试 | 第36-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 4 FRDC源的设计 | 第38-57页 |
| 4.1 基准电压电路 | 第39-42页 |
| 4.1.1 基准电压芯片选型 | 第39-40页 |
| 4.1.2 7V基准电压电路 | 第40-42页 |
| 4.2 分压缓冲电路 | 第42-47页 |
| 4.2.1 分压电路 | 第44-45页 |
| 4.2.2 反相电路 | 第45页 |
| 4.2.3 高速缓冲电路 | 第45-47页 |
| 4.3 模拟开关电路 | 第47-52页 |
| 4.3.1 模拟开关选型 | 第47-50页 |
| 4.3.2 开关控制序列 | 第50-52页 |
| 4.4 基于FPGA的开关控制程序及上位机设计 | 第52-55页 |
| 4.4.1 基于FPGA的开关控制程序设计 | 第52-54页 |
| 4.4.2 上位机设计 | 第54-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 5 样机制作与性能测试 | 第57-65页 |
| 5.1 FRDC源样机制作 | 第57-59页 |
| 5.2 FRDC源样机测试 | 第59-63页 |
| 5.2.1 基准电压稳定性测试 | 第59-60页 |
| 5.2.2 FRDC源输出波形测试 | 第60-63页 |
| 5.3 薄膜热电变换器的交直流转换误差测试与结果分析 | 第63-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 总结 | 第65页 |
| 6.2 展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 作者简历 | 第70页 |
