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平面衍射光栅杂散光测试系统研究

摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第1章 绪论第12-26页
    1.1 课题研究背景及意义第12-13页
    1.2 研究发展现状第13-23页
        1.2.1 光栅杂散光测试系统分类第13-14页
        1.2.2 光栅杂散光测试的发展现状第14-23页
    1.3 论文的主要研究内容及结构安排第23-26页
        1.3.1 论文的主要研究内容第23-24页
        1.3.2 论文的结构安排第24-26页
第2章 平面衍射光栅杂散光理论基础第26-40页
    2.1 平面衍射光栅杂散光研究方法第26-30页
        2.1.1 平面衍射光栅杂散光定义第26-27页
        2.1.2 基于电磁场理论的研究第27-29页
        2.1.3 基于Kirchhoff标量衍射理论的研究第29-30页
    2.2 基于标量衍射理论的平面衍射光栅杂散光测试方法第30-32页
    2.3 系统杂光建模相关理论第32-38页
        2.3.1 杂光建模中的散射模型第32-34页
        2.3.2 镜面散射模型与功率谱密度的关系第34-38页
    2.4 本章小结第38-40页
第3章 平面衍射光栅杂散光测试系统的光学设计第40-62页
    3.1 测试系统技术指标第40-41页
    3.2 系统总体设计方案第41-42页
    3.3 光学设计与结果分析第42-61页
        3.3.1 光源和能量监测系统光学设计第43-46页
        3.3.2 扩束系统光学设计第46-50页
        3.3.3 前置单色光输出系统光学设计第50-54页
        3.3.4 能量控制系统光学设计第54-55页
        3.3.5 测量系统光学设计第55-58页
        3.3.6 整体光学系统一体优化设计第58-61页
    3.4 本章小结第61-62页
第4章 平面衍射光栅杂散光测试系统杂光建模与抑制第62-80页
    4.1 仪器杂光的评价与建模第62-64页
    4.2 杂光源分析第64-67页
    4.3 杂光的抑制措施与结果分析第67-78页
        4.3.1 仪器杂光抑制方法第67-69页
        4.3.2 不同入射波长和镜面粗糙度的结果分析第69-72页
        4.3.3 不同肩宽l的结果分析第72-75页
        4.3.4 不同狭缝宽度的结果分析第75-76页
        4.3.5 不同光栅刻线密度的结果分析第76-78页
    4.4 机电设计中的抑制杂光措施第78-79页
    4.5 本章小结第79-80页
第5章 平面光栅杂散光测试系统装调测试与光栅表面参数反演第80-102页
    5.1 平面光栅杂散光测试系统装调第80-83页
    5.2 样品测试第83-96页
        5.2.1 数据测量、修正与标定第83-90页
        5.2.2 光栅样品的测试第90-91页
        5.2.3 仪器的重复性分析第91-96页
    5.3 光栅表面参数的反演第96-100页
    5.4 本章小结第100-102页
第6章 总结与展望第102-104页
    6.1 论文工作总结第102-103页
    6.2 展望第103-104页
参考文献第104-114页
在学期间学术成果情况第114-116页
指导教师及作者简介第116-118页
致谢第118页

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