摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第13-23页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第13-14页 |
1.2 近红外光谱水果品质分析技术发展概况 | 第14-17页 |
1.2.1 近红外光谱分析技术发展与现状 | 第14页 |
1.2.2 近红外光谱分析技术用于水果品质分析的发展与现状 | 第14-15页 |
1.2.3 便携式水果分析仪器发展与应用 | 第15-17页 |
1.3 线性渐变滤光片应用发展 | 第17-20页 |
1.3.1 线性渐变滤光片简介 | 第17-18页 |
1.3.2 线性渐变滤光片的应用历史与现状 | 第18-20页 |
1.4 研究目的与文章内容 | 第20-23页 |
1.4.1 研究目的 | 第20-21页 |
1.4.2 文章内容与章节介绍 | 第21-23页 |
第2章 近红外水果品质分析原理 | 第23-35页 |
2.1 近红外光谱分析技术的基本原理 | 第23-29页 |
2.1.1 近红外光谱分析技术概述 | 第23页 |
2.1.2 近红外吸收光谱的基本物理原理 | 第23-25页 |
2.1.3 近红外光谱分析的理论基础 | 第25页 |
2.1.4 近红外定量分析流程 | 第25-26页 |
2.1.5 近红外光谱定量分析模型评价标准 | 第26-27页 |
2.1.6 光谱预处理方法 | 第27-29页 |
2.2 水果近红外光谱的获取 | 第29-33页 |
2.2.1 光在水果组织中的传输规律 | 第29-31页 |
2.2.2 水果近红外光谱的采集方式 | 第31-32页 |
2.2.3 水果近红外光谱的采集部位 | 第32-33页 |
本章小结 | 第33-35页 |
第3章 线性渐变滤光片应用条件分析 | 第35-73页 |
3.1 线性渐变滤光片基本理论 | 第35-40页 |
3.1.1 普通窄带干涉滤光片基本理论 | 第35-37页 |
3.1.2 线性渐变滤光片结构 | 第37-39页 |
3.1.3 线性渐变滤光片分光特性的近似描述 | 第39-40页 |
3.2 线性渐变滤光片测试 | 第40-49页 |
3.2.1 线性渐变滤光片的设计指标 | 第40-41页 |
3.2.2 线性渐变滤光片的两种测试方法 | 第41-44页 |
3.2.3 缝宽对测试结果的影响 | 第44-46页 |
3.2.4 滤光片实测结果 | 第46-49页 |
3.3 使用ZEMAX软件仿真线性渐变滤光片 | 第49-51页 |
3.4 入射光束条件对线性渐变滤光片的影响分析 | 第51-60页 |
3.4.1 平行光束倾斜入射对普通窄带干涉滤光片的影响分析 | 第51-53页 |
3.4.2 光束发散角对普通窄带干涉滤光片的影响分析 | 第53-54页 |
3.4.3 平行光束倾斜入射对线性渐变滤光片的影响分析 | 第54-57页 |
3.4.4 光束发散角对线性渐变滤光片的影响分析 | 第57-60页 |
3.5 滤光片与探测器之间存在间隙的影响分析 | 第60-65页 |
3.6 光线在滤光片与探测器间多次反射的影响分析 | 第65-72页 |
本章小结 | 第72-73页 |
第4章 光谱仪光机系统设计 | 第73-89页 |
4.1 准直光学系统设计 | 第73-81页 |
4.1.1 准直光学系统的选择 | 第73-75页 |
4.1.2 平行光管结构设计 | 第75-78页 |
4.1.3 线性渐变滤光片型光谱仪与光栅光谱仪的光通量对比 | 第78-79页 |
4.1.4 线性渐变滤光片型光谱仪与光栅光谱仪的分辨率对比 | 第79-81页 |
4.2 检测探头设计 | 第81-83页 |
4.3 探测器相关研究 | 第83-86页 |
4.3.1 光谱仪各波长输出信号强度估计 | 第83-85页 |
4.3.2 探测器分辨率计算 | 第85页 |
4.3.3 线性渐变滤光片装配 | 第85-86页 |
4.4 光谱仪整体结构设计 | 第86-87页 |
本章小结 | 第87-89页 |
第5章 光谱仪电路系统设计 | 第89-107页 |
5.1 探测器选型 | 第89-92页 |
5.1.1 CMOS探测器与CCD对比 | 第89-90页 |
5.1.2 所用CMOS探测器介绍 | 第90-91页 |
5.1.3 整体电路设计 | 第91-92页 |
5.2 信号调理电路设计 | 第92-98页 |
5.2.1 探测器信号输出原理分析 | 第92-94页 |
5.2.2 电流探测模式电路原理 | 第94页 |
5.2.3 电荷积分模式电路原理 | 第94-95页 |
5.2.4 信号调理电路结构 | 第95-98页 |
5.3 时序控制与驱动电路设计 | 第98-100页 |
5.4 信号采集电路设计 | 第100-101页 |
5.5 外围电路设计 | 第101-103页 |
5.5.1 主控与通信电路设计 | 第101页 |
5.5.2 电源与电压基准电路设计 | 第101-103页 |
5.5.3 电池管理电路设计 | 第103页 |
5.6 光谱仪上位机软件 | 第103-105页 |
本章小结 | 第105-107页 |
第6章 近红外水果品质分析应用研究 | 第107-133页 |
6.1 光谱仪定标与测试 | 第107-111页 |
6.1.1 光谱仪定标 | 第107-108页 |
6.1.2 分辨率测试 | 第108-109页 |
6.1.3 信噪比与稳定性测试 | 第109-111页 |
6.1.4 仪器参数汇总 | 第111页 |
6.2 梨糖度分析应用研究 | 第111-125页 |
6.2.1 材料与方法 | 第112-113页 |
6.2.2 异常样品处理 | 第113-114页 |
6.2.3 光谱数据处理 | 第114-117页 |
6.2.4 样品集划分 | 第117-118页 |
6.2.5 结果与分析 | 第118-125页 |
6.3 苹果糖度分析应用研究 | 第125-130页 |
6.3.1 材料与方法 | 第125-126页 |
6.3.2 异常样品处理 | 第126页 |
6.3.3 光谱数据处理 | 第126-128页 |
6.3.4 样品集划分 | 第128页 |
6.3.5 结果与分析 | 第128-130页 |
本章小结 | 第130-133页 |
第7章 总结与展望 | 第133-137页 |
7.1 论文的主要工作与成果 | 第133-134页 |
7.2 创新性工作 | 第134页 |
7.3 展望 | 第134-137页 |
参考文献 | 第137-147页 |
在学期间学术成果情况 | 第147-149页 |
指导教师及作者简介 | 第149-151页 |
致谢 | 第151页 |