一种可用于RFID的高性能Σ-Δ调制器研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 图表索引 | 第11-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| ·论文研究背景 | 第15-16页 |
| ·∑-ΔADC的优势 | 第16-18页 |
| ·国内外研究现状 | 第18-20页 |
| ·论文研究目标 | 第20-21页 |
| ·论文组织结构 | 第21-22页 |
| 第二章 ∑-△调制器的基本原理 | 第22-46页 |
| ·∑-Δ调制器 | 第22-23页 |
| ·过采样技术 | 第23-24页 |
| ·噪声整形技术 | 第24-29页 |
| ·一阶∑-Δ调制器 | 第26-27页 |
| ·各阶∑-Δ调制器 | 第27-29页 |
| ·各阶调制器的稳定性分析 | 第29-33页 |
| ·高阶单环结构、MASH结构和多比特量化结构 | 第33-40页 |
| ·高阶单环结构 | 第33-37页 |
| ·MASH结构 | 第37-39页 |
| ·多比特量化结构 | 第39-40页 |
| ·论文所需结构的确定 | 第40-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第三章 电路的非理想因素建模及相关指标的确定 | 第46-65页 |
| ·从行为级到电路级的映射 | 第46-50页 |
| ·电路的非理想因素建模及参数确定 | 第50-64页 |
| ·开关电阻的非线性 | 第50-51页 |
| ·开关电容引入的噪声 | 第51-53页 |
| ·运放引入的噪声 | 第53-56页 |
| ·运放的增益限制 | 第56-58页 |
| ·运放的带宽、摆率限制 | 第58-62页 |
| ·时钟抖动噪声 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第四章 电路模块设计 | 第65-100页 |
| ·运放OTA的设计 | 第65-79页 |
| ·运放OTA的结构 | 第65-69页 |
| ·运放OTA的参数设计 | 第69-74页 |
| ·偏置电路及开关共模反馈 | 第74-76页 |
| ·运放的噪声问题 | 第76-79页 |
| ·带隙基准电路的设计 | 第79-87页 |
| ·带隙基准的原理 | 第79-80页 |
| ·高电源抑制比基准电路的设计 | 第80-87页 |
| ·比较锁存器的设计 | 第87-89页 |
| ·多相时钟电路设计 | 第89-90页 |
| ·开关电路的设计 | 第90-97页 |
| ·CMOS开关特性 | 第90-92页 |
| ·自举开关的工作原理 | 第92-94页 |
| ·自举开关的时钟馈通问题 | 第94-97页 |
| ·过载检测电路 | 第97-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第五章 版图设计 | 第100-106页 |
| ·对称性考虑 | 第100-101页 |
| ·数模隔离问题 | 第101-102页 |
| ·天线效应 | 第102-103页 |
| ·整体布局 | 第103-104页 |
| ·后仿结果 | 第104-106页 |
| 第六章 总结与展望 | 第106-109页 |
| ·论文工作总结 | 第106-107页 |
| ·论文的不足与展望 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-118页 |
| 附录 | 第118-119页 |
| 致谢 | 第119页 |
