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太阳能电池半导体材料CuInS2和CuI掺杂性质的第一性原理研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 文献综述第10-24页
   ·太阳能电池分类及特点第10-12页
     ·单晶硅太阳能电池第10-11页
     ·多晶硅太阳能电池第11页
     ·非晶硅薄膜太阳能电池第11-12页
     ·Ⅱ-Ⅵ族化合物太阳能电池第12页
   ·ⅠB-ⅢA-ⅥA族化合物太阳能电池第12-14页
     ·CIGSe薄膜太阳能电池第12-13页
     ·CIS薄膜太阳能电池第13-14页
   ·太阳能电池工作原理第14-17页
     ·半导体的能带结构第14-15页
     ·半导体材料的掺杂第15页
     ·PN结的形成与光电转换机制第15-17页
   ·CIS太阳能电池基本结构第17-18页
   ·CIS薄膜太阳能电池制备技术第18-19页
   ·用第一性原理方法计算CIS和CuI的研究现状第19-21页
     ·用第一性原理方法计算CIS的研究现状第19-20页
     ·用第一性原理方法计算CuI的研究现状第20-21页
   ·本论文的目的意义及组织结构第21-24页
     ·本论文的研究目的与意义第21-22页
     ·本论文的组织结构第22-24页
第二章 理论方法第24-42页
   ·密度泛函理论第24-27页
     ·多粒子薛定谔方程及绝热近似第24-25页
     ·Hohenberg-Kohn定理第25页
     ·Kohn-Sham方程第25-27页
     ·交换关联近似第27页
   ·超越密度泛函理论第27-31页
     ·L(S)DA+U第27-29页
     ·杂化密度泛函第29-31页
       ·PBE0泛函第29-30页
       ·HSE03/06泛函第30-31页
   ·第一性原理平面波方法第31-33页
     ·基于平面波基的Kohn-Sham方程第31-32页
     ·k空间积分第32页
     ·赝势方法第32-33页
   ·VASP计算软件第33-35页
     ·VASP的简单介绍第33-34页
     ·VASP程序总体结构第34页
     ·VASP重要输入文件第34-35页
   ·第一原理计算半导体材料中点缺陷性质的方法第35-42页
     ·缺陷形成能第35-40页
     ·跃迁能级第40-42页
第三章 太阳能电池半导体材料CuInS_2完整晶体及点缺陷性质第42-76页
   ·计算方法与模型第42-45页
   ·CIS完整晶体的结构性质第45-50页
     ·CIS基本物理参数与GGA+U中U的关系第45-48页
     ·PBE、GGA+U和HSE06方法对CIS基本物理参数的计算第48-50页
   ·CIS完整晶体的电子性质第50-62页
     ·GGA+U中不同U值计算CIS能带结构及态密度第50-57页
     ·PBE、GGA+U和HSE06方法计算CIS能带结构及态密度第57-62页
   ·CIS晶体中的点缺陷性质第62-74页
     ·PBE-GGA方法计算CIS中点缺陷形成能和跃迁能级第62-66页
     ·GGA+U方法计算CIS中点缺陷跃迁能级第66-69页
       ·V_(Cu)跃迁能级ε(0/1-)与GGA+U中U的关系第66-67页
       ·GGA+U方法计算CIS中各种点缺陷跃迁能级第67-69页
     ·HSE06-GGA方法计算CIS中点缺陷形成能和跃迁能级第69-74页
   ·本章小结第74-76页
第四章 太阳能电池半导体材料CuI完整晶体及点缺陷性质第76-96页
   ·计算方法与模型第76-79页
   ·CuI完整晶体的结构性质第79-80页
   ·CuI完整晶体的电子性质第80-87页
   ·CuI晶体中的点缺陷性质第87-95页
     ·PBE-GGA方法计算CuI中点缺陷形成能和跃迁能级第88-90页
     ·GGA+U方法计算CuI中点缺陷跃迁能级第90-91页
     ·HSE06-GGA方法计算CuI中点缺陷形成能和跃迁能级第91-95页
   ·本章小结第95-96页
第五章 结论第96-98页
参考文献第98-106页
发表论文和参加科研情况说明第106-108页
致谢第108页

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