机内测试技术在某型自动驾驶仪中的应用研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 BIT技术基本理论 | 第14-25页 |
| ·BIT设计准则 | 第14-15页 |
| ·BIT虚警 | 第15-18页 |
| ·虚警定义 | 第15页 |
| ·BIT虚警的影响 | 第15-16页 |
| ·BIT虚警产生的原因 | 第16页 |
| ·BIT虚警的控制 | 第16-18页 |
| ·实现BIT技术的方法 | 第18-20页 |
| ·系统的功能划分 | 第18页 |
| ·常用的BIT技术 | 第18-20页 |
| ·BIT设计中的关键技术 | 第20-24页 |
| ·确定的故障类型和模式 | 第20-21页 |
| ·建立故障树 | 第21-22页 |
| ·BIT测试点的选择 | 第22页 |
| ·确定检测信号的提取方法 | 第22-23页 |
| ·故障的判别准则 | 第23页 |
| ·防虚警设计 | 第23页 |
| ·BIT软件设计 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 某型自动驾驶仪的BIT设计 | 第25-34页 |
| ·某型自动驾驶仪介绍 | 第25-28页 |
| ·工作原理 | 第25页 |
| ·硬件组成 | 第25-27页 |
| ·系统功能 | 第27-28页 |
| ·各功能模块测试性分析 | 第28-31页 |
| ·CPU部分 | 第29页 |
| ·电源部分 | 第29页 |
| ·RAM和ROM部分 | 第29-30页 |
| ·MIL-STD-1553B 部分 | 第30页 |
| ·A/D和D/A部分 | 第30页 |
| ·RS422 部分 | 第30-31页 |
| ·典型模块的BIT设计思想 | 第31-33页 |
| ·CPU功能模块的BIT测试方法 | 第31页 |
| ·数字I/O通道的BIT测试方法 | 第31-32页 |
| ·串行接口电路的BIT测试方法 | 第32页 |
| ·A/D和D/A转换接口电路的BIT测试方法 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 某型自动驾驶仪BIT硬件设计与调试 | 第34-57页 |
| ·BIT硬件设计方案的确定 | 第34-40页 |
| ·A/D和D/A部分电路设计 | 第34-38页 |
| ·RS422 部分电路设计 | 第38-39页 |
| ·基准源部分电路设计 | 第39-40页 |
| ·故障显示部分电路设计 | 第40页 |
| ·芯片的选型 | 第40-46页 |
| ·单刀单掷开关芯片的选型 | 第40-43页 |
| ·四选一开关芯片的选型 | 第43-45页 |
| ·稳压块芯片的选型 | 第45-46页 |
| ·电路原理图的设计 | 第46-51页 |
| ·开发软件的选择和简介 | 第47页 |
| ·BIT电路原理图设计 | 第47-50页 |
| ·电路原理图设计时的注意事项 | 第50-51页 |
| ·硬件电路PCB设计 | 第51-53页 |
| ·PCB设计的一般步骤 | 第51页 |
| ·PCB设计的注意事项 | 第51-53页 |
| ·硬件调试及结果分析 | 第53-56页 |
| ·硬件功能调试 | 第53-56页 |
| ·硬件调试结果分析 | 第56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 某型自动驾驶仪BIT软件设计与调试 | 第57-69页 |
| ·主程序设计 | 第57-58页 |
| ·BIT初始化子程序设计 | 第58-59页 |
| ·DSP自检子程序设计 | 第59-60页 |
| ·数据采集子程序设计 | 第60页 |
| ·A/D故障诊断子程序设计 | 第60-63页 |
| ·D/A故障诊断子程序设计 | 第63页 |
| ·RS422 故障诊断子程序设计 | 第63-64页 |
| ·故障显示子程序设计 | 第64-65页 |
| ·软件调试及结果分析 | 第65-67页 |
| ·软件调试 | 第65-67页 |
| ·联机调试 | 第67页 |
| ·软件调试结果分析 | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
