| 中文摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 1 绪论 | 第13-30页 |
| ·电介质基础理论 | 第14-17页 |
| ·相对介电常数和介质极化 | 第14-15页 |
| ·介电损耗 | 第15-16页 |
| ·电介质的击穿 | 第16-17页 |
| ·电介质陶瓷储能的基本原理 | 第17-19页 |
| ·储能介质陶瓷的研究进展 | 第19-26页 |
| ·TiO_2基陶瓷 | 第19-21页 |
| ·BaTiO_3基陶瓷 | 第21-23页 |
| ·PbZrO_3基陶瓷 | 第23-24页 |
| ·SrTiO_3基陶瓷 | 第24-26页 |
| ·SrTiO_3的结构与介电性能特征 | 第26-28页 |
| ·存在的问题与本论文的研究内容 | 第28-30页 |
| 2 实验研究方法 | 第30-35页 |
| ·Nd~(3+)掺杂SrTiO_3的电荷补偿机制 | 第30-31页 |
| ·实验方法 | 第31-34页 |
| ·实验设计与实验路线 | 第31-32页 |
| ·实验所用药品 | 第32-33页 |
| ·实验所用仪器及测试设备 | 第33-34页 |
| ·电性能测试与表征 | 第34-35页 |
| 3 Nd_xSr_(1-3x/2)TiO_3陶瓷的结构及介电性能研究 | 第35-52页 |
| ·NST陶瓷样品的制备 | 第35-36页 |
| ·NST陶瓷样品的晶体结构分析 | 第36-39页 |
| ·NST陶瓷样品的介电性能 | 第39-44页 |
| ·常温介电性能 | 第39-40页 |
| ·高温介电弛豫特性 | 第40-44页 |
| ·交流阻抗及等效电路 | 第44-47页 |
| ·NST陶瓷样品的显微结构及耐压特性 | 第47-50页 |
| ·NST陶瓷样品的显微结构 | 第47-49页 |
| ·NST陶瓷样品的耐压特性 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-52页 |
| 4 Nd_xSr_(1-x)Ti_(1-x/4)O_3陶瓷的结构及介电性能研究 | 第52-71页 |
| ·NTO陶瓷样品的制备 | 第52-53页 |
| ·NTO陶瓷样品的晶体结构分析 | 第53-56页 |
| ·NTO陶瓷样品的介电性能 | 第56-67页 |
| ·常温介电性能 | 第56-58页 |
| ·介电弛豫特性 | 第58-67页 |
| ·NTO陶瓷样品的显微结构及耐压特性 | 第67-69页 |
| ·NTO陶瓷样品的显微结构 | 第67-68页 |
| ·NTO陶瓷样品的耐压特性 | 第68-69页 |
| ·小结 | 第69-71页 |
| 5 Nd_xSr_(1-x)TiO_3陶瓷的结构及介电性能研究 | 第71-92页 |
| ·NSTO陶瓷样品的制备 | 第71-72页 |
| ·NSTO陶瓷样品的晶体结构分析 | 第72-75页 |
| ·NSTO陶瓷样品的介电性能 | 第75-84页 |
| ·常温介电性能 | 第75-77页 |
| ·介电弛豫特性 | 第77-84页 |
| ·交流阻抗及等效电路 | 第84-87页 |
| ·NSTO陶瓷样品的显微结构及耐压特性 | 第87-90页 |
| ·NSTO陶瓷样品的显微结构 | 第87-89页 |
| ·NSTO陶瓷样品的耐压特性 | 第89-90页 |
| ·小结 | 第90-92页 |
| 6 Nd掺杂SrTiO_3陶瓷的缺陷化学机理探讨 | 第92-107页 |
| ·Nd掺杂SrTiO_3陶瓷的电荷补偿机制分析讨论 | 第92-102页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第93-95页 |
| ·能谱分析(EDX) | 第95-102页 |
| ·Nd掺杂SrTiO_3陶瓷缺陷结构与介电性能关系探讨 | 第102-105页 |
| ·NST陶瓷体系缺陷结构与介电性能关系探讨 | 第102-104页 |
| ·NTO陶瓷体系缺陷结构与介电性能关系探讨 | 第104-105页 |
| ·NSTO陶瓷体系缺陷结构与介电性能关系探讨 | 第105页 |
| ·小结 | 第105-107页 |
| 7 结论 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-116页 |
| 致谢 | 第116-117页 |
| 附录 | 第117页 |
