系统开发过程中缺陷管理的研究与应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·背景介绍 | 第10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文的研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 与缺陷相关的重要概念 | 第14-17页 |
| ·什么是缺陷 | 第14页 |
| ·缺陷的引入和排除 | 第14-15页 |
| ·发现缺陷的途径 | 第15-17页 |
| 第3章 系统开发过程中的缺陷管理 | 第17-20页 |
| ·缺陷管理概述 | 第17-18页 |
| ·系统开发过程和缺陷管理的关系 | 第18-20页 |
| 第4章 相关技术的介绍 | 第20-24页 |
| ·CMU-SEI的CMM | 第20-22页 |
| ·CMM概述 | 第20-21页 |
| ·CMM与缺陷管理的关系 | 第21-22页 |
| ·采用VSS进行版本管理 | 第22-24页 |
| ·VSS简介 | 第22-23页 |
| ·应用VSS在缺陷管理中的作用 | 第23-24页 |
| 第5章 缺陷的度量 | 第24-39页 |
| ·度量的概念 | 第24-25页 |
| ·缺陷度量标准值的确定 | 第25-29页 |
| ·缺陷类型 | 第25-27页 |
| ·缺陷等级 | 第27-28页 |
| ·缺陷状态 | 第28-29页 |
| ·缺陷度量评价指标研究 | 第29-33页 |
| ·评价指标的选择标准 | 第30页 |
| ·缺陷管理评价指标体系 | 第30-32页 |
| ·缺陷权值的设置 | 第32-33页 |
| ·缺陷度量过程模型设计 | 第33-39页 |
| ·缺陷记录表设计 | 第33-35页 |
| ·过程控制模型 | 第35-37页 |
| ·缺陷预测模型 | 第37-39页 |
| 第6章 缺陷管理实施过程的分析与实现 | 第39-64页 |
| ·法院微机科日常管理系统概述 | 第39-41页 |
| ·缺陷管理共享平台实现 | 第41-44页 |
| ·缺陷管理实施过程的实现 | 第44-64页 |
| ·缺陷数据收集 | 第45-46页 |
| ·行数统计 | 第46-49页 |
| ·缺陷类型的统计 | 第49-50页 |
| ·缺陷等级统计 | 第50-52页 |
| ·缺陷状态的统计 | 第52-54页 |
| ·基于VSS的缺陷数据度量 | 第54-58页 |
| ·过程控制图的建立 | 第58-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读学位期间公开发表论文 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 研究生履历 | 第72页 |
