硅微波晶体管基于加速寿命试验的快速老炼方法
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-14页 |
| ·硅微波晶体管发展概况 | 第8页 |
| ·加速寿命试验发展概况及现状 | 第8-13页 |
| ·国外加速寿命试验的发展 | 第9-11页 |
| ·国内加速寿命试验的发展 | 第11-13页 |
| ·电老炼试验概况 | 第13页 |
| ·论文研究背景 | 第13-14页 |
| 第二章 加速寿命试验理论 | 第14-29页 |
| ·寿命试验 | 第14页 |
| ·寿命分布类型 | 第14-22页 |
| ·指数分布 | 第14-15页 |
| ·对数正态分布 | 第15-17页 |
| ·威布尔分布 | 第17-22页 |
| ·加速寿命试验 | 第22-27页 |
| ·加速寿命试验基本原理 | 第23页 |
| ·加速寿命试验的种类: | 第23-25页 |
| ·加速寿命试验的常用数学模型 | 第25-27页 |
| ·制定加速寿命试验方案 | 第27-29页 |
| 第三章 硅微波晶体管加速寿命方案设计 | 第29-50页 |
| ·微波晶体管结构和种类 | 第29-32页 |
| ·微波晶体管失效模式和失效机理 | 第32-35页 |
| ·控制软件设计和夹具制作 | 第35-41页 |
| ·步进应力摸底试验 | 第41-42页 |
| ·试验方案设计 | 第41-42页 |
| ·试验结果和失效分析 | 第42页 |
| ·恒定应力加速寿命试验 | 第42-46页 |
| ·加速应力的选择 | 第42-43页 |
| ·加速应力水平的确定 | 第43页 |
| ·试验样品的选取 | 第43-44页 |
| ·应力的最高、最低水平及其间隔的确定 | 第44页 |
| ·试验停止时间的确定 | 第44页 |
| ·确定测试周期 | 第44-45页 |
| ·试验数据的整理分析 | 第45-46页 |
| ·数据统计处理 | 第46-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第四章 硅微波晶体管加速老炼试验方案设计 | 第50-55页 |
| ·加速老炼原理 | 第50-51页 |
| ·试验注意事项 | 第51-52页 |
| ·试验过程 | 第52-53页 |
| ·验证试验 | 第53页 |
| ·小结 | 第53-55页 |
| 第五章 结论 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 作者攻博/硕期间取得的成果 | 第59-60页 |
