| 第一章 绪论 | 第1-11页 |
| 1．1 电路测试的研究目的与意义 | 第7-8页 |
| 1．2 内建自测试的研究现状 | 第8-9页 |
| 1．3 本文的研究内容 | 第9-11页 |
| 第二章 数字电路测试的原理 | 第11-18页 |
| 2．1 数字电路测试的相关概念 | 第11-15页 |
| 2．1．1 电路测试的重要性 | 第11-12页 |
| 2．1．2 故障与故障模型 | 第12-13页 |
| 2．1．3 电路测试的一般模型 | 第13页 |
| 2．1．4 电路测试方法的分类 | 第13-15页 |
| 2．2 可测性设计 | 第15-18页 |
| 2．2．1 可测性设计的必要性 | 第15页 |
| 2．2．2 可测性的度量 | 第15-16页 |
| 2．2．3 内建自测试的原理 | 第16-18页 |
| 第三章 线性反馈移位寄存器和故障模拟 | 第18-26页 |
| 3．1 线性反馈移位寄存器 | 第18-20页 |
| 3．2 伪随机发生器 | 第20-22页 |
| 3．3 故障模拟 | 第22-26页 |
| 3．3．1 故障模拟的原理 | 第22-23页 |
| 3．3．2 本文采用的故障模拟方法——并行故障模拟 | 第23-26页 |
| 第四章 基于扫描的重新播种内建自测试 | 第26-40页 |
| 4．1 基于扫描的重新播种内建自测试 | 第26-28页 |
| 4．1．1 基于扫描的可测性设计 | 第26-27页 |
| 4．1．2 重新播种 | 第27页 |
| 4．1．3 基于扫描的重新播种内建自测试模型 | 第27-28页 |
| 4．2 使用很少种子的重新播种内建自测试 | 第28-35页 |
| 4．2．1 使用很少种子的重新播种 BIST方法的实现步骤 | 第28-30页 |
| 4．2．2 使用很少种子的重新播种BIST方法的实验结果 | 第30-35页 |
| 4．2．3 使用很少种子的重新播种 BIST方法的优缺点 | 第35页 |
| 4．3 选择多个单元的重新播种测试方法 | 第35-38页 |
| 4．4 两种测试方法的比较 | 第38-40页 |
| 第五章 测试复用研究 | 第40-46页 |
| 5．1 测试复用 | 第40-41页 |
| 5．2 测试生成器的复用 | 第41-42页 |
| 5．3 测试生成器复用方法的实验结果 | 第42-46页 |
| ◆ 测试复用的实验结果(I) | 第42-43页 |
| ◆ 测试复用的实验结果(II) | 第43-44页 |
| ◆ 测试复用的实验结果的比较 | 第44-46页 |
| 第六章 结束语 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 附录A:攻读硕士学位时发表的文章 | 第51页 |
| 附录B:故障覆盖率程序 | 第51-64页 |
