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应变对半导体掺杂与氧化物界面物性的调控

中文摘要第1-8页
ABSTRACT第8-12页
第一章 绪论第12-22页
   ·计算机模拟与材料设计第12-14页
   ·应变与计算机模拟第14-15页
   ·应变对材料的影响第15-21页
     ·应变对传统半导体的影响第15-17页
     ·应变对稀磁半导体的影响第17-18页
     ·应变对金属氧化物薄膜的影响第18-19页
     ·应变对扩散的影响第19-21页
   ·本论文研究的内容第21-22页
第二章 第一性原理计算的理论基础第22-38页
   ·多体的薛定谔方程第22-23页
   ·Hartree-Fock方法-单电子近似第23-25页
   ·Kohn-Sham方程第25-26页
   ·LDA近似和GGA近似第26-28页
   ·平面波赝势法第28-32页
   ·结构优化方法第32-35页
     ·Hellmann-Feynman力第32-33页
     ·共轭梯度方法第33-34页
     ·自洽计算第34-35页
   ·本章小结第35-38页
第三章 半导体中的应变诱导的量子效应第38-56页
   ·引言第38-39页
   ·理论分析第39-41页
   ·计算方法和结构模型第41-44页
   ·结果与讨论第44-53页
     ·应变对形成能的影响第44-48页
     ·电子结构第48-52页
     ·应变对磁性的影响第52-53页
   ·本章小结第53-56页
第四章 应变对扩散势垒的调制第56-72页
   ·引言第56-59页
   ·计算方法和模型第59-60页
   ·结果和讨论第60-69页
     ·应变对结合能的影响第60-61页
     ·应变对扩散势垒的影响第61-69页
   ·小结第69-72页
第五章 应变对氧化物LaAlO_3/SrTiO_3界面的影响第72-88页
   ·引言第72-77页
   ·计算方法和模型第77-78页
     ·计算细节第77页
     ·结构模型第77-78页
   ·结果与讨论第78-87页
     ·优化后的原子结构第78-80页
     ·氧空位的形成能第80-82页
     ·应变对氧空位形成能的影响第82-83页
     ·应变对电子结构的影响第83-87页
   ·本章小结第87-88页
第六章 总结与展望第88-90页
附录第90-91页
参考文献第91-106页
插图第106-110页
表格第110-111页
致谢第111页

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