| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 1 绪论 | 第12-20页 |
| ·问题的提出 | 第12页 |
| ·本文研究目的和意义 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状与最新进展 | 第13-17页 |
| ·过程均值问题及其发展概况 | 第13-15页 |
| ·非正态有偏分布控制图设计的发展概况 | 第15-17页 |
| ·本文主要内容 | 第17-19页 |
| ·研究的思路和方法 | 第19页 |
| ·创新之处 | 第19-20页 |
| 2 基于不同质量损失函数的最优过程均值的确定 | 第20-36页 |
| ·前言 | 第20-21页 |
| ·截尾分布和最优过程均值的确定 | 第21-29页 |
| ·单边截尾分布收益模型 | 第21-23页 |
| ·不对称分段线性损失函数和田口质量损失函数 | 第23-24页 |
| ·双边截尾正态分布损失模型 | 第24-29页 |
| ·多变量最优过程均值的确定 | 第29-34页 |
| ·多变量质量损失函数 | 第29-32页 |
| ·多变量质量特性的最优过程均值优化模型 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 3 基于Beta分布的最优过程均值及检验规格限的确定 | 第36-45页 |
| ·前言 | 第36-37页 |
| ·截尾Beta分布 | 第37-39页 |
| ·损失函数和优化模型 | 第39-41页 |
| ·质量损失函数 | 第39页 |
| ·优化模型 | 第39-41页 |
| ·数值计算 | 第41-42页 |
| ·灵敏度分析 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 4 随机漂移下最优过程均值和生产调整周期的确定 | 第45-53页 |
| ·前言 | 第45页 |
| ·质量损失函数和均值漂移模型 | 第45-49页 |
| ·质量损失函数 | 第45-46页 |
| ·过程均值常数漂移模型(Pakkala and Rahim模型) | 第46-48页 |
| ·过程均值随机漂移模型 | 第48-49页 |
| ·期望损失 | 第49-50页 |
| ·数值计算 | 第50页 |
| ·灵敏度分析 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 5 最优过程均值和质量投资决策 | 第53-67页 |
| ·前言 | 第53页 |
| ·正态总体综合成本模型 | 第53-57页 |
| ·优化模型的建立 | 第53-56页 |
| ·数值计算 | 第56页 |
| ·灵敏度分析 | 第56-57页 |
| ·望小特性质量投资模型 | 第57-62页 |
| ·质量投入对过程均值影响的情况 | 第57-60页 |
| ·质量投入对均值和方差影响的情况 | 第60-61页 |
| ·质量投入对销量影响的情况 | 第61-62页 |
| ·数值计算 | 第62页 |
| ·质量投资对望大特性均值确定的影响 | 第62-65页 |
| ·模型建立 | 第62-64页 |
| ·灵敏度分析 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 6 基于田口质量损失函数的控制图优化设计 | 第67-79页 |
| ·前言 | 第67页 |
| ·非正态数据正态性转换 | 第67-70页 |
| ·Burr分布及控制图优化设计 | 第70-76页 |
| ·Burr分布 | 第70-74页 |
| ·控制图优化设计 | 第74-76页 |
| ·数值计算 | 第76页 |
| ·灵敏度分析 | 第76-77页 |
| ·本章小结 | 第77-79页 |
| 7 非正态总体的验收控制图设计 | 第79-91页 |
| ·前言 | 第79-80页 |
| ·基于比例赋权方差法的验收控制图设计 | 第80-90页 |
| ·赋权方差法和比例赋权方差法 | 第80-84页 |
| ·基于比例赋权方差法验收控制图设计 | 第84-88页 |
| ·数值计算 | 第88-89页 |
| ·灵敏度分析 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 8 G/G/S系统队长的优化控制 | 第91-100页 |
| ·前言 | 第91页 |
| ·排队系统概述及分类 | 第91-94页 |
| ·G/G/S排队模型的建立 | 第94-96页 |
| ·损失函数及控制限的确定 | 第96-97页 |
| ·应用实例 | 第97页 |
| ·监控效益比较 | 第97-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 结论与展望 | 第100-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-113页 |
| 附录 | 第113页 |