结构弛豫对铁电薄膜性质影响的研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·选题背景 | 第9-10页 |
| ·铁电体和铁电薄膜的发展及应用 | 第10-13页 |
| ·铁电体的发展及应用 | 第10-12页 |
| ·铁电薄膜的发展及应用 | 第12-13页 |
| ·研究的主要内容 | 第13-15页 |
| 第2章 铁电体及铁电薄膜的相关理论 | 第15-30页 |
| ·铁电体的基本概念 | 第15-17页 |
| ·铁电体的基本理论 | 第17-21页 |
| ·宏观理论——GLD 唯象理论 | 第17-18页 |
| ·微观理论 | 第18-19页 |
| ·平均场近似下的软模理论 | 第19-21页 |
| ·铁电薄膜的基本概念 | 第21-22页 |
| ·铁电薄膜的相关理论 | 第22-30页 |
| ·外推长度方法 | 第23-24页 |
| ·非理想表面层法 | 第24-25页 |
| ·横场Ising 模型和格林函数方法 | 第25-27页 |
| ·第一性原理计算方法 | 第27-30页 |
| 第3章 结构模型及相关理论 | 第30-39页 |
| ·结构模型 | 第30-31页 |
| ·相关理论 | 第31-39页 |
| ·推广Gibbs 自由能 | 第31-33页 |
| ·Euler 方程 | 第33-39页 |
| 第4章 数值计算与结果分析 | 第39-52页 |
| ·铁电薄膜的(ε_r|-) 与电场频率ω的分布 | 第39-45页 |
| ·不同λ值对(ε_r|-) 与电场频率ω的影响 | 第39-41页 |
| ·不同η值对(ε_r|-) 与电场频率ω的影响 | 第41-42页 |
| ·不同β值对(ε_r|-) 与电场频率ω的影响 | 第42-44页 |
| ·不同t 值对(ε_r|-) 与电场频率ω的影响 | 第44-45页 |
| ·铁电薄膜的(ε_r|-) 与温度的关系 | 第45-50页 |
| ·不同λ值对(ε_r|-) 与温度的影响 | 第45-47页 |
| ·不同η值对(ε_r|-) 与温度的影响 | 第47-48页 |
| ·不同ω值对(ε_r|-) 与温度的影响 | 第48-50页 |
| ·不同频率下，介电损耗正切与温度的关系 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
