| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-12页 |
| 图表目录 | 第12-15页 |
| 1 绪论 | 第15-30页 |
| ·论文研究的背景及意义 | 第15-18页 |
| ·背景 | 第15-17页 |
| ·研究意义 | 第17-18页 |
| ·论文的理论意义和应用价值 | 第18-19页 |
| ·论文的理论意义 | 第18页 |
| ·论文研究的应用价值 | 第18-19页 |
| ·国内外研究现状 | 第19-27页 |
| ·国内研究概况 | 第19-20页 |
| ·国外研究概况 | 第20-26页 |
| ·发展趋势 | 第26-27页 |
| ·本文的主要研究内容及解决的问题 | 第27-28页 |
| ·本文的章节安排 | 第28-30页 |
| 2 面向质量目标的零件层次统计公差研究 | 第30-63页 |
| ·概述 | 第30-31页 |
| ·面向质量目标的制造过程质量评价参数 | 第31-39页 |
| ·数据参数 | 第31-32页 |
| ·过程参数 | 第32-33页 |
| ·质量目标参数 | 第33-39页 |
| ·过程能力指数及合格率的研究 | 第39-51页 |
| ·过程能力指数概述 | 第39-44页 |
| ·对过程质量评价指标和过程能力指数的比较分析 | 第44-48页 |
| ·直接过程能力指数和间接过程能力指数 | 第48-49页 |
| ·全过程能力指数 | 第49-51页 |
| ·统计公差在零件图上的表达方法 | 第51-54页 |
| ·国外标注方法 | 第51-53页 |
| ·国内标注方法 | 第53-54页 |
| ·面向质量目标的图形化动态统计公差带 | 第54-61页 |
| ·图形化统计公差带常用的几种表示方法 | 第54-55页 |
| ·基于C_p-k平面单质量目标的图形化统计公差带 | 第55-61页 |
| ·基于C_p-k平面多质量目标的图形化统计公差带 | 第61页 |
| ·图形化统计公差带在制造过程质量控制中的应用 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 3 面向配合质量的统计公差技术的研究 | 第63-79页 |
| ·概述 | 第63页 |
| ·配合能力分析和配合能力指数 | 第63-69页 |
| ·配合尺寸的实际分布和配合后的间隙或过盈的分布之间的关系 | 第64-65页 |
| ·配合能力指数和配合偏移系数 | 第65-67页 |
| ·配合能力分析 | 第67-69页 |
| ·配合质量的评价指标的建立与标准化 | 第69-72页 |
| ·配合质量的评价指标主要是三个指标 | 第70页 |
| ·配合质量的评价指标与两个配合尺寸的过程能力指数的关系 | 第70-72页 |
| ·面向配合质量目标的统计公差设计 | 第72-78页 |
| ·配合质量目标的合理设定和统计公差设计 | 第73-74页 |
| ·用两个配合尺寸的过程能力指数预测配合质量并改进配合质量 | 第74-76页 |
| ·孔轴配合尺寸的协调加工 | 第76-77页 |
| ·装配尺寸的统计参数和统计公差计算 | 第77-78页 |
| ·小结 | 第78-79页 |
| 4. 面向制造过程的非正态分布统计公差研究 | 第79-103页 |
| ·概述 | 第79-80页 |
| ·统计公差的分析方法 | 第80-83页 |
| ·TAYLOR级数展开法 | 第80-81页 |
| ·TAGUCHI及其修正法 | 第81页 |
| ·直接积分法 | 第81-82页 |
| ·ROSENBLUTHE法及其改进方法 | 第82-83页 |
| ·MONTE CARLO方法 | 第83页 |
| ·基于BETA分布的数据处理 | 第83-88页 |
| ·BETA分布的统计参数 | 第83-84页 |
| ·单位贝塔分布与完全贝塔分布之间的映射关系 | 第84页 |
| ·贝塔分布的累积概率及其分位数计算 | 第84-85页 |
| ·BETA分布的参数拟合算法 | 第85-88页 |
| ·非正态分布的配合质量分析 | 第88-95页 |
| ·随机变量的和、乘积、商的分布密度 | 第88-90页 |
| ·非线性非正态分布装配条件下合成尺寸的均值及统计公差的计算 | 第90-91页 |
| ·基于贝塔分布的配合质量分析 | 第91-95页 |
| ·基于统计公差技术的真实环境下并行质量优化 | 第95-102页 |
| ·非正态分布的MONTE CARLO仿真 | 第95-97页 |
| ·最优参数的确定 | 第97-99页 |
| ·数据拟合及求解 | 第99-100页 |
| ·应用实例 | 第100-102页 |
| ·本章小结 | 第102-103页 |
| 5 基于统计公差技术的异地制造产品质量协同控制 | 第103-120页 |
| ·概述 | 第103-104页 |
| ·异地制造过程质量控制体系结构 | 第104-107页 |
| ·系统的体系结构及协同控制的实现技术 | 第104-105页 |
| ·质量协同控制器的结构及运行 | 第105-107页 |
| ·基于统计公差的配合质量的协调控制 | 第107-113页 |
| ·异地制造产品数据处理技术 | 第107-112页 |
| ·质量协同控制方法 | 第112-113页 |
| ·基于STA、SPC和EPC的集成方法质量控制 | 第113-119页 |
| ·STA、EPC和SPC的集成体系结构 | 第114页 |
| ·STA、EPC和SPC的智能集成体系结构 | 第114-115页 |
| ·智能集成方法质量控制技术 | 第115-117页 |
| ·集成方法在制造过程质量控制中的应用实例 | 第117-119页 |
| ·本章小结 | 第119-120页 |
| 6 面向质量目标的统计公差应用实例 | 第120-135页 |
| ·基于统计公差的集成化质量控制系统设计 | 第120-124页 |
| ·系统主要功能 | 第120-121页 |
| ·关键技术处理方法 | 第121-122页 |
| ·系统服务器端设计实例 | 第122-124页 |
| ·应用案例一——面向质量目标的封闭环尺寸制造质量的控制 | 第124-127页 |
| ·应用案例二——扩展企业面向质量目标的封闭环尺寸制造质量的控制 | 第127-133页 |
| ·本章小结 | 第133-135页 |
| 7 总结及展望 | 第135-138页 |
| ·总结 | 第135-136页 |
| ·展望 | 第136-138页 |
| 致谢 | 第138-139页 |
| 参考文献 | 第139-149页 |
| 附录A 作者开发的统计函数库列表 | 第149-153页 |
| 附录B 主要符号一览表 | 第153-155页 |
| 攻读博士学位期间的主要成果 | 第155-157页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文和出版著作情况 | 第155-157页 |
| 攻读博士学位期间已完成及在研科学研究项目情况 | 第157页 |
| 攻读博士学位期间学术成果获奖情况 | 第157页 |
