| 摘要 | 第1页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·选题的背景与意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究概况 | 第8-10页 |
| ·本文的主要工作 | 第10-11页 |
| 第二章 EMI 电源滤波器原理 | 第11-17页 |
| ·传导干扰耦合 | 第11-12页 |
| ·EMI 电源滤波器的典型结构 | 第12-13页 |
| ·EMI 电源滤波器的插入损耗 | 第13-15页 |
| ·适于二次设备的EMI 滤波器分析 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 分布参数对 EMI 滤波器性能影响的仿真分析 | 第17-31页 |
| ·插入损耗的仿真计算 | 第17-20页 |
| ·滤波器高频分布参数对滤波性能影响 | 第20-27页 |
| ·电感元件的非理想特性 | 第20-21页 |
| ·电容元件的非理想特性 | 第21-23页 |
| ·分布参数下插入损耗计算 | 第23-27页 |
| ·阻抗变化对滤波性能的影响 | 第27-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第四章 二次设备电磁屏蔽仿真分析 | 第31-40页 |
| ·电磁屏蔽机理 | 第31-33页 |
| ·电磁屏蔽原理 | 第31-32页 |
| ·屏蔽效果的表示方法 | 第32页 |
| ·二次设备的屏蔽 | 第32-33页 |
| ·有限元法原理 | 第33-35页 |
| ·对屏蔽壳体屏蔽效果的仿真研究 | 第35-39页 |
| ·面积相同的单孔与孔阵对屏蔽效能的影响 | 第35-36页 |
| ·开孔形状对屏蔽效果的影响 | 第36-38页 |
| ·箱体谐振对屏蔽效能的影响 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第五章 滤波器性能及外壳屏蔽效能测试试验 | 第40-51页 |
| ·EMI 滤波器滤波性能实验室测试 | 第40-46页 |
| ·滤波器测试原理 | 第40-41页 |
| ·滤波器插入损耗测试试验设计 | 第41-42页 |
| ·滤波器接地对滤波性能影响测试 | 第42-43页 |
| ·滤波器不同阻抗匹配下的插入损耗测试 | 第43-44页 |
| ·改进型滤波器性能测试 | 第44-46页 |
| ·壳体屏蔽效能的实验室测试方法设计 | 第46-50页 |
| ·试验设计 | 第47-48页 |
| ·屏蔽效能测试结果分析 | 第48-49页 |
| ·仿真计算结果对比 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 在学期间发表的学术论文和参加科研情况 | 第56页 |