基于形态谱和LCD的超声电机陶瓷开裂故障特征提取
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第8-12页 |
| 1.2.1 国内外研究现状 | 第8-11页 |
| 1.2.2 超声电机故障特征提取存在的不足 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 正常行波型超声电机的定子建模及仿真 | 第14-28页 |
| 2.1 引言 | 第14页 |
| 2.2 行波型超声电机结构及监测信号的选取 | 第14-18页 |
| 2.2.1 压电陶瓷结构 | 第15页 |
| 2.2.2 压电效应 | 第15-16页 |
| 2.2.3 超声电机常见的故障 | 第16页 |
| 2.2.4 超声电机监测信号的选取 | 第16-18页 |
| 2.3 超声电机的工作原理 | 第18-19页 |
| 2.3.1 超声电机运行机理 | 第18-19页 |
| 2.3.2 定子表面质点椭圆运动轨迹的形成 | 第19页 |
| 2.4 压电陶瓷开裂对孤极信号的影响 | 第19-20页 |
| 2.5 正常超声电机定子有限元建模 | 第20-23页 |
| 2.5.1 ANSYS及有限元法简介 | 第20页 |
| 2.5.2 超声电机定子有限元模型的建立 | 第20-23页 |
| 2.6 正常超声电机定子有限元仿真分析 | 第23-26页 |
| 2.6.1 定子模态分析 | 第23-24页 |
| 2.6.2 谐响应分析 | 第24-25页 |
| 2.6.3 瞬态响应分析 | 第25-26页 |
| 2.7 本章小结 | 第26-28页 |
| 第3章 不同开裂故障超声电机定子建模及仿真 | 第28-40页 |
| 3.1 引言 | 第28页 |
| 3.2 超声电机不同开裂故障模型的建立 | 第28-29页 |
| 3.2.1 裂纹模拟的相关描述 | 第28-29页 |
| 3.3 压电陶瓷开裂故障仿真分析 | 第29-34页 |
| 3.3.1 时频域分析相关理论 | 第30页 |
| 3.3.2 信号的频谱分析 | 第30页 |
| 3.3.3 不同开裂故障仿真结果 | 第30-34页 |
| 3.4 压电陶瓷开裂故障实测信号分析 | 第34-37页 |
| 3.4.1 超声电机试验平台的组建 | 第34-36页 |
| 3.4.2 超声电机压电陶瓷开裂故障监测试验 | 第36-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-40页 |
| 第4章 LCD分解方法 | 第40-48页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 基于多尺度形态谱的信号重构 | 第40-42页 |
| 4.2.1 多尺度形态分解 | 第40-41页 |
| 4.2.2 孤极信号的形态谱重构 | 第41-42页 |
| 4.3 LCD分解信号 | 第42-45页 |
| 4.3.1 信号处理方法 | 第42-43页 |
| 4.3.2 LCD分解相关理论 | 第43页 |
| 4.3.3 LCD分解的条件 | 第43-44页 |
| 4.3.4 LCD分解的过程 | 第44-45页 |
| 4.4 LCD分解能量谱熵 | 第45-46页 |
| 4.4.1 熵的相关理论 | 第45页 |
| 4.4.2 LCD能量谱熵的定义 | 第45-46页 |
| 4.5 超声电机故障特征提取流程 | 第46-47页 |
| 4.5.1 故障特征的提取方法 | 第46页 |
| 4.5.2 故障特征提取流程 | 第46-47页 |
| 4.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 实测数据的开裂分析 | 第48-56页 |
| 5.1 引言 | 第48页 |
| 5.2 试验数据的采集 | 第48页 |
| 5.3 试验数据的分析 | 第48-53页 |
| 5.4 抗扰性分析 | 第53-54页 |
| 5.5 本章小结 | 第54-56页 |
| 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-64页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
