| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 研究意义 | 第12页 |
| 1.3 研究现状综述 | 第12-19页 |
| 1.3.1 电连接器可靠性评估综述 | 第12-13页 |
| 1.3.2 退化建模研究综述 | 第13-18页 |
| 1.3.2.1 基于失效物理的退化建模 | 第14页 |
| 1.3.2.2 基于统计的退化建模 | 第14-18页 |
| 1.3.3 多元性能退化建模研究现状 | 第18页 |
| 1.3.4 模型验证的研究现状 | 第18-19页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第19-20页 |
| 1.4.1 研究目标 | 第19页 |
| 1.4.2 研究内容 | 第19-20页 |
| 第二章 电连接器贮存环境效应和失效机理分析 | 第20-31页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 电连接器的结构、材料和功能 | 第20-22页 |
| 2.2.1 电连接器的结构、材料 | 第20-21页 |
| 2.2.2 电连接器的功能分析 | 第21-22页 |
| 2.3 型号装备及电连接器的贮存剖面 | 第22-24页 |
| 2.4 电连接器贮存环境效应分析 | 第24-27页 |
| 2.4.1 接触件的环境效应分析 | 第24-25页 |
| 2.4.2 绝缘体的环境效应分析 | 第25-26页 |
| 2.4.3 密封体的环境效应分析 | 第26页 |
| 2.4.4 壳体的环境效应分析 | 第26-27页 |
| 2.5 电连接器贮存状态下失效模式分析 | 第27-28页 |
| 2.6 电连接器贮存状态下的失效机理 | 第28-30页 |
| 2.7 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于多元性能退化的电连接器贮存可靠性建模 | 第31-43页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 电连接器接触性能的随机过程建模 | 第31-37页 |
| 3.2.1 氧化腐蚀物与接触电阻的关系 | 第31-33页 |
| 3.2.2 电连接器接触性能退化随机过程模型 | 第33-35页 |
| 3.2.3 基于随机过程的电连接器接触性能退化寿命分布 | 第35-37页 |
| 3.3 电连接器绝缘性能的退化建模 | 第37-42页 |
| 3.3.1 绝缘电阻的退化模型 | 第37-41页 |
| 3.3.1.1 绝缘电阻的数学模型 | 第37-38页 |
| 3.3.1.2 绝缘电阻的退化模型 | 第38-41页 |
| 3.3.2 绝缘电阻加速退化模型 | 第41页 |
| 3.3.3 绝缘体退化寿命分布建模 | 第41-42页 |
| 3.4 电连接器的多元性能退化模型 | 第42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 电连接器加速试验方案及试验数据的统计分析 | 第43-55页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 电连接器恒定应力加速试验方案 | 第43-48页 |
| 4.2.1 确定试验方法 | 第43页 |
| 4.2.2 电连接器的加速试验方案 | 第43-46页 |
| 4.2.3 各性能参数的测试方法 | 第46-47页 |
| 4.2.4 数据的记录形式 | 第47-48页 |
| 4.3 电连接器接触性能试验数据的统计分析 | 第48-51页 |
| 4.3.1 试验数据结果及试验应力的标准化处理 | 第48-49页 |
| 4.3.2 试验数据的预处理 | 第49页 |
| 4.3.3 接触电阻随机过程模型的参数估计理论 | 第49-50页 |
| 4.3.4 接触电阻随机过程模型的参数估计结果 | 第50-51页 |
| 4.4 电连接器绝缘性能试验数据的统计分析 | 第51-53页 |
| 4.4.1 试验数据的统计分析方法 | 第51-53页 |
| 4.4.2 统计分析结果 | 第53页 |
| 4.5 本章小节 | 第53-55页 |
| 第五章 电连接器多元性能退化模型的验证 | 第55-68页 |
| 5.1 引言 | 第55页 |
| 5.2 电连接器接触性能随机过程模型的验证 | 第55-62页 |
| 5.2.1 模型的正态性检验 | 第55-60页 |
| 5.2.2 加速方程的检验 | 第60-62页 |
| 5.2.2.1 方差分析 | 第60-61页 |
| 5.2.2.2 线性回归分析 | 第61-62页 |
| 5.3 电连接器绝缘性能退化模型的检验 | 第62-65页 |
| 5.3.1 异常数据的剔除 | 第62-63页 |
| 5.3.2 拟合优度检验 | 第63页 |
| 5.3.3 退化率分布检验 | 第63-64页 |
| 5.3.4 加速方程的检验 | 第64-65页 |
| 5.4 电连接器多元性能退化模型相关性的检验 | 第65页 |
| 5.5 电连接器失效机理的验证 | 第65-67页 |
| 5.5.1 接触失效机理验证 | 第65-66页 |
| 5.5.2 绝缘失效机理验证 | 第66-67页 |
| 5.6 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 总结 | 第68页 |
| 6.2 展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录 | 第77-84页 |
| 攻读硕士期间的研究成果 | 第84页 |