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基于多元性能退化的电连接器贮存可靠性建模与验证

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-20页
    1.1 研究背景第11-12页
    1.2 研究意义第12页
    1.3 研究现状综述第12-19页
        1.3.1 电连接器可靠性评估综述第12-13页
        1.3.2 退化建模研究综述第13-18页
            1.3.2.1 基于失效物理的退化建模第14页
            1.3.2.2 基于统计的退化建模第14-18页
        1.3.3 多元性能退化建模研究现状第18页
        1.3.4 模型验证的研究现状第18-19页
    1.4 本文研究内容第19-20页
        1.4.1 研究目标第19页
        1.4.2 研究内容第19-20页
第二章 电连接器贮存环境效应和失效机理分析第20-31页
    2.1 引言第20页
    2.2 电连接器的结构、材料和功能第20-22页
        2.2.1 电连接器的结构、材料第20-21页
        2.2.2 电连接器的功能分析第21-22页
    2.3 型号装备及电连接器的贮存剖面第22-24页
    2.4 电连接器贮存环境效应分析第24-27页
        2.4.1 接触件的环境效应分析第24-25页
        2.4.2 绝缘体的环境效应分析第25-26页
        2.4.3 密封体的环境效应分析第26页
        2.4.4 壳体的环境效应分析第26-27页
    2.5 电连接器贮存状态下失效模式分析第27-28页
    2.6 电连接器贮存状态下的失效机理第28-30页
    2.7 本章小结第30-31页
第三章 基于多元性能退化的电连接器贮存可靠性建模第31-43页
    3.1 引言第31页
    3.2 电连接器接触性能的随机过程建模第31-37页
        3.2.1 氧化腐蚀物与接触电阻的关系第31-33页
        3.2.2 电连接器接触性能退化随机过程模型第33-35页
        3.2.3 基于随机过程的电连接器接触性能退化寿命分布第35-37页
    3.3 电连接器绝缘性能的退化建模第37-42页
        3.3.1 绝缘电阻的退化模型第37-41页
            3.3.1.1 绝缘电阻的数学模型第37-38页
            3.3.1.2 绝缘电阻的退化模型第38-41页
        3.3.2 绝缘电阻加速退化模型第41页
        3.3.3 绝缘体退化寿命分布建模第41-42页
    3.4 电连接器的多元性能退化模型第42页
    3.5 本章小结第42-43页
第四章 电连接器加速试验方案及试验数据的统计分析第43-55页
    4.1 引言第43页
    4.2 电连接器恒定应力加速试验方案第43-48页
        4.2.1 确定试验方法第43页
        4.2.2 电连接器的加速试验方案第43-46页
        4.2.3 各性能参数的测试方法第46-47页
        4.2.4 数据的记录形式第47-48页
    4.3 电连接器接触性能试验数据的统计分析第48-51页
        4.3.1 试验数据结果及试验应力的标准化处理第48-49页
        4.3.2 试验数据的预处理第49页
        4.3.3 接触电阻随机过程模型的参数估计理论第49-50页
        4.3.4 接触电阻随机过程模型的参数估计结果第50-51页
    4.4 电连接器绝缘性能试验数据的统计分析第51-53页
        4.4.1 试验数据的统计分析方法第51-53页
        4.4.2 统计分析结果第53页
    4.5 本章小节第53-55页
第五章 电连接器多元性能退化模型的验证第55-68页
    5.1 引言第55页
    5.2 电连接器接触性能随机过程模型的验证第55-62页
        5.2.1 模型的正态性检验第55-60页
        5.2.2 加速方程的检验第60-62页
            5.2.2.1 方差分析第60-61页
            5.2.2.2 线性回归分析第61-62页
    5.3 电连接器绝缘性能退化模型的检验第62-65页
        5.3.1 异常数据的剔除第62-63页
        5.3.2 拟合优度检验第63页
        5.3.3 退化率分布检验第63-64页
        5.3.4 加速方程的检验第64-65页
    5.4 电连接器多元性能退化模型相关性的检验第65页
    5.5 电连接器失效机理的验证第65-67页
        5.5.1 接触失效机理验证第65-66页
        5.5.2 绝缘失效机理验证第66-67页
    5.6 本章小结第67-68页
第六章 总结与展望第68-70页
    6.1 总结第68页
    6.2 展望第68-70页
参考文献第70-76页
致谢第76-77页
附录第77-84页
攻读硕士期间的研究成果第84页

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