结构应变测试中应变传递机理与温度应变补偿研究
摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-17页 |
1.1 研究背景 | 第10-13页 |
1.1.1 应变测试的意义 | 第10-11页 |
1.1.2 应变测试方法 | 第11-13页 |
1.2 研究现状 | 第13-16页 |
1.2.1 电阻应变计 | 第14-15页 |
1.2.2 振弦式应变计 | 第15页 |
1.2.3 光纤光栅应变测试 | 第15-16页 |
1.3 本文研究内容 | 第16-17页 |
第2章 应变测试原理 | 第17-30页 |
2.1 电阻应变测试 | 第17-22页 |
2.1.1 电阻应变计工作原理 | 第17-20页 |
2.1.2 测量原理 | 第20-21页 |
2.1.3 温度应变修正 | 第21-22页 |
2.2 振弦应变测试 | 第22-26页 |
2.2.1 应变计工作原理 | 第22-24页 |
2.2.2 弦的振动特性 | 第24-25页 |
2.2.3 测量原理 | 第25页 |
2.2.4 温度应变修正 | 第25-26页 |
2.3 光纤光栅应变测试 | 第26-29页 |
2.3.1 应变计工作原理 | 第26-27页 |
2.3.2 测量原理 | 第27-28页 |
2.3.3 温度应变修正 | 第28-29页 |
2.4 本章小结 | 第29-30页 |
第3章 应变计的变形传递分析 | 第30-39页 |
3.1 电阻应变片 | 第30-31页 |
3.1.1 封装方式 | 第30页 |
3.1.2 应变传递分析 | 第30-31页 |
3.2 振弦式应变计 | 第31-33页 |
3.2.1 封装方式 | 第31-32页 |
3.2.2 表面式应变计 | 第32页 |
3.2.3 埋入式应变计 | 第32-33页 |
3.3 光纤布拉格光栅应变计 | 第33-37页 |
3.3.0 封装方式 | 第33页 |
3.3.1 表面式应变计 | 第33-36页 |
3.3.2 埋入式应变计 | 第36-37页 |
3.4 封装中影响应变传递的因素 | 第37-38页 |
3.4.1 有效长度 | 第37-38页 |
3.4.2 封装中间层 | 第38页 |
3.4.3 被测结构材料弹性模量 | 第38页 |
3.5 本章小结 | 第38-39页 |
第4章 应变传递的有限元分析 | 第39-48页 |
4.1 表面式应变计应变传递有限元分析 | 第39-44页 |
4.1.1 电阻应变片 | 第39-40页 |
4.1.2 振弦式应变计 | 第40-42页 |
4.1.3 表面式基片光纤布拉格光栅应变计 | 第42-44页 |
4.2 埋入式应变计应变传递有限元分析 | 第44-47页 |
4.2.1 振弦式应变计 | 第44-46页 |
4.2.2 光纤光栅应变计 | 第46-47页 |
4.3 本章小结 | 第47-48页 |
第5章 应变测试中温度应变补偿的研究 | 第48-53页 |
5.1 温度应变 | 第48-49页 |
5.1.1 温度应变的产生 | 第48-49页 |
5.1.2 温度应变的补偿 | 第49页 |
5.2 应变测试中温度应变补偿的误区 | 第49-51页 |
5.3 工程结构应变测试中温度应变的补偿 | 第51-52页 |
5.3.1 结构检测的温度应变补偿措施 | 第51页 |
5.3.2 结构健康监测的温度应变补偿措施 | 第51-52页 |
5.4 本章小结 | 第52-53页 |
第6章 总结与展望 | 第53-54页 |
6.1 研究总结 | 第53页 |
6.2 工作展望 | 第53-54页 |
致谢 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-58页 |