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结构应变测试中应变传递机理与温度应变补偿研究

摘要第4-5页
abstract第5-6页
第1章 绪论第10-17页
    1.1 研究背景第10-13页
        1.1.1 应变测试的意义第10-11页
        1.1.2 应变测试方法第11-13页
    1.2 研究现状第13-16页
        1.2.1 电阻应变计第14-15页
        1.2.2 振弦式应变计第15页
        1.2.3 光纤光栅应变测试第15-16页
    1.3 本文研究内容第16-17页
第2章 应变测试原理第17-30页
    2.1 电阻应变测试第17-22页
        2.1.1 电阻应变计工作原理第17-20页
        2.1.2 测量原理第20-21页
        2.1.3 温度应变修正第21-22页
    2.2 振弦应变测试第22-26页
        2.2.1 应变计工作原理第22-24页
        2.2.2 弦的振动特性第24-25页
        2.2.3 测量原理第25页
        2.2.4 温度应变修正第25-26页
    2.3 光纤光栅应变测试第26-29页
        2.3.1 应变计工作原理第26-27页
        2.3.2 测量原理第27-28页
        2.3.3 温度应变修正第28-29页
    2.4 本章小结第29-30页
第3章 应变计的变形传递分析第30-39页
    3.1 电阻应变片第30-31页
        3.1.1 封装方式第30页
        3.1.2 应变传递分析第30-31页
    3.2 振弦式应变计第31-33页
        3.2.1 封装方式第31-32页
        3.2.2 表面式应变计第32页
        3.2.3 埋入式应变计第32-33页
    3.3 光纤布拉格光栅应变计第33-37页
        3.3.0 封装方式第33页
        3.3.1 表面式应变计第33-36页
        3.3.2 埋入式应变计第36-37页
    3.4 封装中影响应变传递的因素第37-38页
        3.4.1 有效长度第37-38页
        3.4.2 封装中间层第38页
        3.4.3 被测结构材料弹性模量第38页
    3.5 本章小结第38-39页
第4章 应变传递的有限元分析第39-48页
    4.1 表面式应变计应变传递有限元分析第39-44页
        4.1.1 电阻应变片第39-40页
        4.1.2 振弦式应变计第40-42页
        4.1.3 表面式基片光纤布拉格光栅应变计第42-44页
    4.2 埋入式应变计应变传递有限元分析第44-47页
        4.2.1 振弦式应变计第44-46页
        4.2.2 光纤光栅应变计第46-47页
    4.3 本章小结第47-48页
第5章 应变测试中温度应变补偿的研究第48-53页
    5.1 温度应变第48-49页
        5.1.1 温度应变的产生第48-49页
        5.1.2 温度应变的补偿第49页
    5.2 应变测试中温度应变补偿的误区第49-51页
    5.3 工程结构应变测试中温度应变的补偿第51-52页
        5.3.1 结构检测的温度应变补偿措施第51页
        5.3.2 结构健康监测的温度应变补偿措施第51-52页
    5.4 本章小结第52-53页
第6章 总结与展望第53-54页
    6.1 研究总结第53页
    6.2 工作展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-58页

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