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SATA2.0调试测试结构设计与实现

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第13-18页
    1.1 课题背景及意义第13-16页
        1.1.1 课题背景第13页
        1.1.2 研究现状第13-15页
        1.1.3 选题意义第15-16页
    1.2 研究内容第16-17页
    1.3 文章组织结构第17-18页
第2章 边界扫描技术与故障模拟分析第18-30页
    2.1 高速信号传输第18页
    2.2 IEEE1149.1边界扫描标准第18-23页
        2.2.1 体系结构第19页
        2.2.2 TAP控制器第19-20页
        2.2.3 寄存器类型第20-22页
        2.2.4 指令第22-23页
    2.3 IEEE1149.6边界扫描标准第23-25页
        2.3.1 IEEE1149.6标准概述第23-24页
        2.3.2 管脚分类第24页
        2.3.3 指令第24-25页
    2.4 高速互连故障模拟与分析第25-28页
        2.4.1 实验电路构建第25-26页
        2.4.2 互连故障模拟第26-27页
        2.4.3 故障分析第27-28页
    2.5 小结第28-30页
第3章 SATA2.0调测试结构设计第30-45页
    3.1 SATA2.0调测试需求分析第30-31页
    3.2 调测试结构总体设计第31-34页
        3.2.1 调测试结构设计难点第32页
        3.2.2 总体设计第32-34页
    3.3 测试发送器设计第34-38页
        3.3.1 发送器输入第35-37页
        3.3.2 发送器输出使能第37-38页
        3.3.3 发送器输出与传输第38页
    3.4 测试接收逻辑第38-44页
        3.4.1 测试接收器输入与输出第39页
        3.4.2 信号重构第39-44页
    3.5 小结第44-45页
第4章 SATA2.0调测试结构的验证与版图实现第45-51页
    4.1 调测试结构的验证第45-47页
    4.2 调测试结构的版图实现第47-50页
        4.2.1 版图设计第48-49页
        4.2.2 版图验证第49-50页
    4.3 小结第50-51页
第5章 SATA2.0调测试结构的集成与使用第51-62页
    5.1 调测试结构的集成第51-59页
        5.1.1 调测试结构集成方式概述第51-53页
        5.1.2 SOC TAP控制器的实现第53页
        5.1.3 SOC中指令寄存器的实现第53-57页
        5.1.4 SOC TAP控制器与指令寄存器的验证第57-58页
        5.1.5 SOC TAP控制器与指令寄存器的综合第58-59页
    5.2 调测试结构的使用第59-61页
    5.3 小结第61-62页
结束语第62-64页
参考文献第64-67页
致谢第67-68页
附录A 攻读硕士学位期间发表的论文第68页

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