基于短路电流的IGBT模块状态评估方法的研究
| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 可靠性状态评估的相关研究现状 | 第11-15页 |
| 1.3 目前存在的问题 | 第15页 |
| 1.4 本文研究的内容 | 第15-17页 |
| 2 IGBT模块状态评估原理 | 第17-27页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 器件性能退化机理分析 | 第17-19页 |
| 2.3 短路电流状态评估原理分析 | 第19-25页 |
| 2.3.1 IGBT器件的短路特性 | 第19页 |
| 2.3.2 IGBT模块退化对短路电流影响分析 | 第19-22页 |
| 2.3.3 短路电流的影响因素分析 | 第22-24页 |
| 2.3.4 短路安全工作区 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 3 IGBT发射极等效电阻网络模型的建立与分析 | 第27-43页 |
| 3.1 引言 | 第27页 |
| 3.2 IGBT发射极等效电阻网络模型的建立 | 第27-39页 |
| 3.2.1 IGBT元胞结构及版图结构 | 第27-29页 |
| 3.2.2 等效网络模型建立 | 第29-36页 |
| 3.2.3 等效电阻网络模型的仿真 | 第36-39页 |
| 3.3 模拟老化方式的制定 | 第39-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 4 实验验证与分析 | 第43-63页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 硬件电路测试系统 | 第43-49页 |
| 4.2.1 驱动电路设计与制作 | 第43-48页 |
| 4.2.2 短路电流测试平台 | 第48-49页 |
| 4.3 模拟不同老化方式下实验结果及分析 | 第49-55页 |
| 4.3.1 等效模型中电阻大小关系的验证 | 第49-51页 |
| 4.3.2 模拟不同老化方式下的实验结果 | 第51-53页 |
| 4.3.3 基于短路电流差值的分析 | 第53-55页 |
| 4.4 IGBT性能退化的状态评估 | 第55-62页 |
| 4.4.1 短路电流偏差值分析 | 第56-58页 |
| 4.4.2 饱和压降偏差值分析 | 第58-60页 |
| 4.4.3 状态变化区间划分 | 第60-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 结论与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 论文总结 | 第63-64页 |
| 5.2 后续展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 附录 | 第71页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第71页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第71页 |
