一维、二维高频磁特性测量系统的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题的研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 磁特性测量方法及测量技术研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 磁特性测量方法研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.2 测量技术研究现状 | 第12页 |
| 1.3 本文主要的研究工作 | 第12-15页 |
| 第二章 磁特性测量方法概述 | 第15-29页 |
| 2.1 磁特性测量方法的研究历程 | 第15-19页 |
| 2.2 一维磁特性测量方法及测量装置简介 | 第19-25页 |
| 2.2.1 爱泼斯坦方圈法 | 第19-22页 |
| 2.2.2 环形样件法 | 第22-23页 |
| 2.2.3 单片测量法 | 第23-25页 |
| 2.3 二维磁特性测量方法及测量装置简介 | 第25-27页 |
| 2.4 三维磁特性测量方法研究现状 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 一维高频磁特性测量方法的研究 | 第29-43页 |
| 3.1 一维高频磁特性测量方法及测量系统简介 | 第29-31页 |
| 3.2 LabVIEW与数据采集卡简介 | 第31-33页 |
| 3.2.1 LabVIEW简介 | 第31-32页 |
| 3.2.2 数据采集卡的选择 | 第32-33页 |
| 3.3 激磁程序设计 | 第33-38页 |
| 3.3.1 激磁程序主框架 | 第33-35页 |
| 3.3.2 激磁信号的波形参数实时改变的设计 | 第35-36页 |
| 3.3.3 退磁原理及退磁程序 | 第36-38页 |
| 3.4 采集处理程序设计 | 第38-42页 |
| 3.4.1 采集处理程序主框架 | 第38-39页 |
| 3.4.2 缓冲区的设置 | 第39-40页 |
| 3.4.3 波形处理程序 | 第40-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 二维高频磁特性测量方法的研究 | 第43-61页 |
| 4.1 二维高频磁特性测量方法及测量系统简介 | 第43-47页 |
| 4.2 屏蔽原理及屏蔽结构研究 | 第47-51页 |
| 4.3 激磁程序设计 | 第51-53页 |
| 4.4 采集处理程序设计 | 第53-59页 |
| 4.4.1 采集处理程序主框架 | 第53-55页 |
| 4.4.2 零相位波形提取原理的研究 | 第55-56页 |
| 4.4.3 波形调理程序 | 第56-59页 |
| 4.5 本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 实验结果分析 | 第61-71页 |
| 5.1 环形样件法获得的一维磁特性测量结果分析 | 第61-64页 |
| 5.2 二维装置法获得的交变磁特性测量结果分析 | 第64-67页 |
| 5.3 二维装置法获得的旋转磁特性测量结果分析 | 第67-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
